Gebraucht LEICA / VISTEC MIS 200 #9238023 zu verkaufen

LEICA/VISTEC MIS 200 ist eine Masken- und Waferinspektionsanlage, die für die Herstellung von mikroelektronischen Geräten entwickelt wurde. Es verfügt über ein digitales Mikroskop mit einem hochauflösenden farbigen LCD-Display, erweiterte hochauflösende Bildgebung und leistungsstarke Algorithmen zur automatisierten Erkennung von Defekten an Masken und Wafern. Das System bietet Bildaufnahme und Manipulation sowohl im 2D- als auch im 3D-Modus und ermöglicht eine umfassende Analyse der mikroelektronischen Komponente. Durch die Kopplung dieser Einheit mit den fortschrittlichen Algorithmen der LeitzLEICA proprietären Software können Benutzer sowohl ausländische als auch inländische Fehler innerhalb der Mikrostrukturen auf einem bestimmten Gerät genau und schnell erkennen. Die Maschine bietet auch ein breites Beobachtungsfeld für die Betrachtung großer Fotomasken- oder Waferbereiche, was einen einfacheren Vergleich mit Produktstandards ermöglicht. Die Verwendung hochauflösender digitaler Bilder in Kombination mit den leistungsstarken Software-Algorithmen ermöglicht ein radiales und zonales Scannen bei gleichzeitigem Vergleich der digitalen Bilder mit Design-for-Inspection (DFI) -Daten. Dadurch kann der Anwender eventuell vorhandene Fehler genau erkennen und quantitativ messen. Das Tool verfügt über eine intuitive grafische Benutzeroberfläche, die eine einfache Auswahl zwischen verschiedenen Modi, Messgeräten und Bilderfassungsparametern ermöglicht. Es bietet ein einfach zu bedienendes Setup-Menü, in dem Benutzer die gewünschten Parameter für die automatisierte Analyse und Datenerfassung auswählen können. Es beinhaltet auch einen automatisierten Produktionsmodus zur schnellen und effizienten Analyse großer Fotomasken- und Waferbereiche. Leistungsmerkmale des Vermögenswertes sind: verbesserte digitale Fokusfähigkeit; Hochgeschwindigkeitsbildgebung; mehrere Darstellungen; und Zoomstufe bis 2500x. Die digitale Bildaufnahme funktioniert sowohl im Hellfeld als auch im Dunkelfeld. Das Modell kann automatisierte Schatten- und Binärkantenerkennung, automatisierte Materialpräsenztests, Registersteuerungstests und Lückenanalysen durchführen. Zusammenfassend ist LEICA MIS 200 eine leistungsstarke und intuitive hochauflösende Masken- und Wafer-Inspektionsanlage mit fortschrittlichen Funktionen, die den Inspektionsprozess vereinfachen und eine genaue Erkennung und quantitative Analyse von Defekten an mikroelektronischen Komponenten ermöglichen. Dieses System eignet sich sowohl für automatisierte Produktionsanwendungen als auch für manuelle Inspektionsszenarien.