Gebraucht LEICA / VISTEC MIS 200 #9266272 zu verkaufen

LEICA/VISTEC MIS 200 Masken- und Wafer-Inspektionsgeräte sind ein hochleistungsfähiges automatisiertes optisches Inspektionssystem zur Erkennung und Analyse von Defekten in Halbleiterbauelementstrukturen. Das Gerät verwendet die neuesten innovativen optischen Bildgebungstechniken und Präzisionsbewegungssteuerung, um die bestmögliche Fehlererkennung und Genauigkeit bei jeder Prozessgeometrie zu gewährleisten. LEICA MIS 200 bietet durch seine dynamische Bildverarbeitung eine vertiefende Analyse der Merkmals- und Mustererkennung. Die Maschine verfügt über einen modularen Aufbau, der eine breite Palette von Erweiterungsoptionen ermöglicht, darunter erweiterte Bildgebungssysteme, Strahlmanipulationssysteme, automatisierte Messtechnik und Peripheriegeräte für erweiterte Fehlerabbildungen. Es enthält auch ein benutzerdefiniertes Softwarepaket, das eine Auswahl an Beleuchtungswellenlänge, Vergrößerung und anderen Werkzeugeinstellungen bietet. Die Inspektionsanlage umfasst eine patentierte Inspektionsstufe, die eine präzise Bewegungssteuerung und eine hohe Genauigkeit der Fehlerabscheidung bietet. Das Modell verfügt über ein großes Sichtfeld, um mehrere Geräte in einem einzigen Sichtfeld zu erfassen, wodurch der Durchsatz maximiert und die Bedienzeit minimiert wird. Es verwendet Hochgeschwindigkeitspixelverschiebungen, um Bewegungsunschärfen zu minimieren, wodurch kritische Fehler im gesamten Sichtfeld genau erkannt werden können. VISTEC MIS 200 enthält eine fortschrittliche Beleuchtungsausrüstung, die die ultimative Fehlererkennungsfähigkeit bietet. Kombiniert mit der einzigartigen dynamischen Bildverarbeitung bietet es eine überlegene Fehlercharakterisierung und Klassifizierung. Es nutzt progressive Intensitätsabtastung, ermöglicht die Erkennung von Musterdefekten, sowie zufällige Fehler, was zu einem besseren Verständnis der Geräteeigenschaften. Das System bietet zudem eine leistungsstarke Defektklassifizierungsmaschine, die Fehler automatisch gruppiert und zur weiteren Überprüfung und Analyse klassifiziert. Dieser automatisierte Prozess erhöht die Fehlersichtbarkeit und erhöht den Einheitendurchsatz und die Genauigkeit. Darüber hinaus bietet eine intuitive Benutzeroberfläche einfachen Zugriff und die Änderung von Programmeinstellungen und Parametern. LEICA Inspektionsmaschine ist gut geeignet für Halbleiterbauelementehersteller von kleinen Fertigungslabors bis hin zu Serieneinstellungen. Das Werkzeug gewährleistet eine zuverlässige Bedienung und erhöhte Genauigkeit sowohl in manuellen als auch in automatisierten Prozessen. Mit seiner fortschrittlichen Bildgebung und präzisen Bewegungssteuerung bietet es eine effiziente Lösung zur Erkennung und Analyse von Gerätestrukturfehlern.