Gebraucht LEITZ Ergolux #193173 zu verkaufen

LEITZ Ergolux Maske & Wafer Inspektion Ausrüstung für Halbleiterbildgebung ist ein einzigartiges System, das branchenführende Genauigkeit und Effizienz für die Inspektion von Silizium-Wafern und Masken bietet. Dieses Gerät nutzt eine einzigartige Roboterbildplattform mit integrierten erweiterten Visions- und Messtechnikfunktionen. Ergolux-Maschine wurde entwickelt, um eine effektive, zerstörungsfreie bildgebende Umgebung zur Verfügung zu stellen, die sowohl die Wahrscheinlichkeit von Wafer- und Maskenschäden als auch die Menge an Zeit und Ressourcen reduziert, die mit herkömmlichen Inspektionsmethoden verbraucht werden. LEITZ Ergolux ist bedienerfreundlich konzipiert und umfasst intuitive Benutzeroberflächen zur schnellen Einstellung von Parametern und Konfigurationen. Die Software Automated Tool Control (ASC) bietet Programmierwerkzeuge zum einfachen Steten automatisierter Messzyklen mit benutzerfreundlichen grafischen Programmierelementen. Mit den integrierten Vision und Metrology Systemen können Bediener Messmuster schnell definieren und anpassen und in Kombination mit den umfangreichen Messungen Ergebnisextraktionsfähigkeit umfassende zerstörungsfreie Fehleranalysen von Wafern und Masken zuverlässig durchführen. Ergolux umfasst erweiterte Stereo-Vision-Funktionen wie Multi-Achsen-Scan, Zoom, Schwenken, Neigen, Scan-Deck-Rotation, Scan-Bereich-Projektion und Bildausrichtungskorrektur. Der Multi-Achsen-Bildscan eliminiert Bewegungsartefakte, die üblicherweise bei herkömmlichen manuellen oder Scanner-Inspektionen beobachtet werden, und ermöglicht eine engere, genaue Messung über verschiedene Wafer- und Maskengeometrien. Die Zoom- und Schwenkfunktionen ermöglichen die Erfassung und Inspektion größerer Bilder, die eine detailliertere Fehleranalyse ermöglichen. Das optische Mikroskop auf der LEITZ Ergolux Plattform bietet eine eingehende Analyse auf mögliche Fehler oder Anomalien, die in einem Bild identifiziert wurden. Das Mikroskop weist auch auswechselbare Objektive auf, um den Bediener bei der Identifizierung komplexer Defekte wie Resistbildverzerrungen, Drahtbrüche oder Kurzschlüsse in integrierten Großschaltungen weiter zu unterstützen. Zusätzlich kann mit dem Mikroskop sowohl die Vorder- als auch die Rückseite eines Wafers oder einer Maske zur weiteren Fehleranalyse untersucht werden. Darüber hinaus umfasst Ergolux einen automatisierten zerstörungsfreien Wafer-Stress-Analysator, der die Belastung von Wafern oder Masken während des Inspektionsprozesses messen soll. Die NDSSA ist ein berührungsloses Asset, das HPS™ hochpräzisen Sensoren verwendet, um die Beanspruchung der Oberfläche eines Wafers oder einer Maske abzubilden. Diese Messung der Spannungsanalyse kann verwendet werden, um kleine Veränderungen an einem Wafer oder einer Maske zu erkennen und bietet einen umfassenden Überblick über einen Wafer oder eine Maske, um eine fehlerfreie Fertigung zu gewährleisten. LEITZ Ergolux ist ein innovatives bildgebendes Modell, das sich ideal für Halbleiterbildgebungsanwendungen eignet. Die erweiterten bildgebenden Funktionen, die automatisierte Wafer-Spannungsanalyse und die intuitiven Benutzeroberflächen bieten effiziente, genaue Inspektionsergebnisse, die den anspruchsvollsten Prozessanforderungen entsprechen. Ergolux-Geräte sind für anspruchsvolle Produktionsumgebungen konzipiert und liefern robuste Ergebnisse für den Halbleiterinspektionsprozess.