Gebraucht LTX-CREDENCE / OPTONICS Emiscope II #293655589 zu verkaufen

LTX-CREDENCE/OPTONICS Emiscope II ist eine hochmoderne Masken- und Waferinspektionsanlage, die sich der erfolgreichen Sondierung und visuellen Beurteilung von integrierten Schaltungen (IC) während des Halbleiterherstellungsprozesses widmet. Es ist eine fortschrittliche Automatisierungsplattform, die ein 10x Makro-Inspektionssystem mit 50mm Sichtfeld mit einem optisch gekoppelten Wafermikroskop kombiniert, das speziell entwickelt wurde, um die ICs während der Wafer-Sondierung, der Stempel-zu-Form-Bildgebung und der Wafer-Oberflächenmessung genau auszuwerten. Herzstück des Geräts ist ein vergrößertes Zoomobjektiv mit einem Bereich von ein- bis zehnfacher Vergrößerung mit einfacher Bedienung bei jeder Vergrößerung und einem variablen Sichtfeld. Mit dem einzigartigen optischen Design des Emiscope kann der Benutzer den Objektivzoom und das Sichtfeld einfach an die gewünschte Größe anpassen. Die Maschine verfügt außerdem über eine intuitive Front-End-Oberfläche und eine fortschrittliche Software, mit der der Benutzer problemlos Parameter einstellen und die Werkzeugeinstellung nach Bedarf steuern kann. Das Asset ist zudem mit einer hochauflösenden Digitalkamerakomponente ausgestattet, die für die jeweilige Anwendung optimiert ist. Zusätzlich verwendet die digitale Kameratechnologie einen digitalen Signalprozessor (DSP) für maximale Datenextraktionsmöglichkeiten. Dies gewährleistet eine genaue Datenerfassung für die besten Ergebnisse. Um die Genauigkeit und Zuverlässigkeit des Masken- und Wafer-Inspektionsprozesses zu verbessern, bietet OPTONICS Emiscope II eine Vielzahl fortschrittlicher Funktionen zur Verbesserung der Ausbeute. Diese Merkmale umfassen eine einzigartige Fehlermusterinspektion oder ein Fehlerüberprüfungswerkzeug, mit dem der Benutzer den genauen Ort des potenziellen Fehlers auf dem Wafer genau und effektiv erkennen kann. Die Wafer-Review-Software liefert auch statistische Informationen über die Mängel und die Anzahl der gefundenen Mängel. Darüber hinaus bietet das Modell dem Anwender auch die Möglichkeit, Fehlertypen und Schwellenwerte zu definieren, um das Beste aus der Ausrüstung herauszuholen. LTX-CREDENCE Emiscope II ist auch mit einer Reihe von optischen Komponenten und Software-Tools ausgestattet, die es dem Benutzer ermöglichen, Fehler während des Inspektionsprozesses automatisch zu erkennen und zu kategorisieren, was einen reibungsloseren Prozess und schnellere Ergebnisse ermöglicht. Darüber hinaus wurde der automatisierte Workflow von Emiscope II entwickelt, um menschliche Fehler zu minimieren, indem das Risiko von Fehlbedienungen und Fehlern verringert wird. Insgesamt ist LTX-CREDENCE/OPTONICS Emiscope II ein hochzuverlässiges und effizientes Masken- und Wafer-Inspektionssystem, das eine unvergleichliche Leistung und Genauigkeit mit ausgezeichneter Benutzeroberfläche und Softwarekomponenten bietet, die einen effizienten Inspektionsprozess ermöglichen. Das Gerät ist ideal für jede IC-Fertigungsstätte, die qualitativ hochwertigste Produkte fördern und gleichzeitig Kosten und Risiken minimieren möchte.