Gebraucht MATSUSHITA M777 #9329275 zu verkaufen

MATSUSHITA M777 Mask & Wafer Inspection Equipment ist ein hochpräzises optomechanisches Messtechnikinstrument, das speziell für die Inspektion von Halbleiterscheiben und Photomasken entwickelt wurde. Es verwendet eine halbe Zoll telezentrische Linse, um die Zielproben abzubilden, mit einer Auflösung von 1 Mikron oder besser. Die Bilder der Probenoberfläche werden bei mehreren Off-Axis-Vergrößerungen aufgenommen, was eine umfassende Oberflächeninspektion und -analyse ermöglicht. M777 verwendet eine Vielzahl von optischen Bildgebungstechniken, um seinen Inspektionsprozess durchzuführen, wie Laserinterferometrie, achromatische Bildgebung und Phasenmessung. Dies ermöglicht eine hochauflösende Analyse der Waferoberfläche und ermöglicht präzise Messungen von Merkmalsgröße, Oberflächenmerkmalen und Partikelverschmutzung. Das System ist mit einer in sich geschlossenen Selbstkalibriereinheit ausgestattet, die eine Wiederholbarkeit der Messergebnisse von besser als 10 Nanometern ermöglicht. Die Maschine verfügt über eine Wafer-Mapping-Funktion, die die Verfolgung von Wafern während ihres Inspektionsfortschritts ermöglicht. Zusätzlich kann eine Fehlerdatenbank in MATSUSHITA M777 programmiert werden, um Fehlerbereiche für eine spätere Überprüfung und Charakterisierung zu verfolgen. Das Werkzeug ist in der Lage, extrem feine Oberflächendetails zu erfassen, wie Chip-Topologie und Feature-Platzierungen, sowie Funktionen, die zu klein sind, um in einem Mikroskop aufgelöst werden. Dies ermöglicht die Analyse von hochpräzisen Waferstrukturen mit einer Auflösung von weniger als einem Nanometer. M777 Asset ist auch mit Sicherheitsfunktionen konzipiert, um sowohl Benutzer als auch das Instrument selbst zu schützen. Es verfügt über eine ESD-geschützte Innenumgebung und eine eingebaute reflektierende/nicht reflektierende Türkonstruktion, um zu verhindern, dass Licht den Inspektionsbereich verlässt. Es verfügt auch über einen eigenen Kühlkreislauf, bietet Schutz vor Überhitzung des Modells während des Betriebs. MATSUSHITA M777 ist ein wirklich außergewöhnliches messtechnisches Instrument zur Inspektion von Halbleiterscheiben und Masken. Seine optischen Abbildungstechniken ermöglichen höchste Genauigkeit in der Oberflächenanalyse und seine eingebauten Sicherheitsmerkmale bieten einen verbesserten Schutz während des Betriebs. Mit seiner Benutzerfreundlichkeit und überlegenen Leistung ist das M777 Mask & Wafer Inspection System eine ausgezeichnete Wahl für die fortschrittliche Halbleitermesstechnik.