Gebraucht MATSUSHITA PSX307-M #9394953 zu verkaufen

MATSUSHITA PSX307-M Mask & Wafer Inspection Equipment ist ein fortschrittliches, leistungsstarkes System zur Fehlerinspektion von Halbleitermasken und Großwafern. Das Gerät nutzt die fortschrittliche optische Doppelpyramidendeflektometrie (DOE) -Technologie, um Form und Oberfläche jedes Halbleiterbauelements genau zu messen und so kritische Fehler und ihre genauen Stellen zu erkennen. Eine bordeigene, hochauflösende Kamera ist mit der Maschine zur Bilderfassung des geprüften Wafers oder der Maske integriert, und überlegene Bildgebungsfunktionen ermöglichen die Inspektion selbst feinster Details. Das Tool nutzt auch die fortschrittliche dreidimensionale optische Sensortechnologie (3D & OS) zur umfassenden Fehlersuche und -messung. Mit diesem fortschrittlichen Asset ist es möglich, kleine Defekte an Wafern und Masken zu erkennen sowie Oberflächenform, Höhe und andere physikalische Eigenschaften genau zu messen. Diese Daten können verwendet werden, um die Größe und Form eines Geräts zu messen, um eine präzise Qualitätskontrolle zu gewährleisten. PSX307-M ist mit einer integrierten automatischen Ausrichtungsfunktion ausgestattet, die im Einklang mit dem 3D & OS-Modell arbeitet, um eine präzise Fehlerinspektion zu ermöglichen. Diese automatische Ausrichtungsfunktion ermöglicht die Erkennung von Minutenfehlern mit hoher Genauigkeit, auch bei großen Wafern. Darüber hinaus ist das Gerät mit einem fortgeschrittenen Bildanalyse-Tool (MATMESH) ausgestattet, das eine Echtzeit-Fehlerbehebung zur hocheffizienten Fehlerinspektion durchführt. MATSUSHITA PSX307-M bietet auch eine Vielzahl von benutzerfreundlichen Menüs und Funktionen, die eine einfache Bedienung ermöglichen. Das System ist mit einem manuellen Betriebsmodus sowie einem automatischen Betriebsmodus ausgestattet, so dass der Betrieb auf die Bedürfnisse der Benutzer zugeschnitten werden kann. Darüber hinaus ermöglicht die Unterstützung verschiedener Programmiersprachen Benutzern, individuelle Inspektionsprogramme für spezifische Bedürfnisse zu entwickeln. Zusammenfassend ist PSX307-M Mask & Wafer Inspection Unit eine fortschrittliche Hochleistungsmaschine zur Fehlerinspektion von Halbleitermasken und Großwafern. Unter Verwendung fortschrittlicher optischer und dreidimensionaler Sensortechnologie ist das Werkzeug in der Lage, kleinere Defekte mit hoher Genauigkeit zu erkennen, während seine eingebauten automatischen Ausrichtungs- und Bildanalysefunktionen zur weiteren Verbesserung der Betriebseffizienz dienen. Mit seinen vielfältigen benutzerfreundlichen Menüs und Funktionen ist MATSUSHITA PSX307-M eine ausgezeichnete Wahl für die automatisierte Masken- und Waferinspektion.