Gebraucht MATSUSHITA / SEIKI M515-II #9329276 zu verkaufen

MATSUSHITA/SEIKI M515-II ist ein automatisiertes Mikroarray- und Wafer-Inspektionsgerät zur Inspektion beider Seiten von Wafern und Masken. Das System nutzt drei digitale Abbildungssysteme, die hochauflösende Bilder aufnehmen, die dann in Echtzeit analysiert werden. Das Gerät kann bis zu vier Wafer oder Masken gleichzeitig inspizieren. Die Maschine ist mit einer breiten Palette fortschrittlicher Optik ausgestattet, einschließlich einer hochauflösenden Kamera, Projektionsobjektiven und Laserverdrängungsgeräten. Diese Komponenten ermöglichen es dem Werkzeug, alle kritischen Informationen über die Maske oder den Wafer mit hoher Genauigkeit und Präzision zu erfassen. SEIKI M515-II verfügt über eine große Tischfläche für Wafer und Maskenbeladung. Das Wafer- und Maskenladen kann manuell oder über ein automatisiertes Asset erfolgen. Darüber hinaus ist das Modell mit einem leistungsstarken Softwarepaket ausgestattet, das verschiedene Parameter wie Oberflächenfehler, Dickenvariationen und allgemeine Eigenschaften der Wafer oder Masken analysieren kann. Das Gerät ist auch mit einem Vakuumsystem für Wafer und Maskenhandling ausgestattet, das Verschmutzungen minimiert. Ein einzigartiges Merkmal von MATSUSHITA M515-II ist die fortschrittliche Fehlererkennungstechnologie, die eine Reihe von Algorithmen verwendet, um Fehler schnell zu identifizieren und dann entsprechend zu klassifizieren. Schließlich verfügt das Gerät über eine hohe Geschwindigkeit und unterstützt mehrere Bildausgabeformate. M515-II ist eine leistungsstarke und zuverlässige Inspektionsmaschine, die Fehler bis zu 0,0003 Zoll identifiziert. Seine fortschrittlichen Optik- und Fehlererkennungsalgorithmen ermöglichen es ihm, Genauigkeit sowohl in Wafer- als auch in Maskenform und Oberflächeninspektionen bereitzustellen. Das kompakte und effiziente Design des Werkzeugs bietet Stabilität, Haltbarkeit und Benutzerfreundlichkeit. MATSUSHITA/SEIKI M515-II asset bietet eine kostengünstige und zuverlässige Lösung für Mikroarray- und Waferinspektionsanwendungen, die den anspruchsvollsten Anwenderanforderungen entsprechen.