Gebraucht MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR #9124645 zu verkaufen

MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR
ID: 9124645
Wafergröße: 8"
Wafer inspection system, 8".
MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR ist eine Masken- und Waferinspektionsanlage, die fortschrittliche, zerstörungsfreie Wafer- und Maskeninspektionsmöglichkeiten von einer einfach zu bedienenden Plattform aus bietet. Dieses System ist für die effiziente und zuverlässige Charakterisierung von bildgebenden Geräten konzipiert, einschließlich komplexer Farbfilterarrays, transparenter leitfähiger Oxide und mehrschichtiger Rückebenen. DDR-300 NIR nutzt hochauflösende Direct Imaging und Speckle Imaging Algorithmen, um genaue und zuverlässige Leistung zu liefern. Die Plattform wird mit hochauflösendem optoelectronics, UV-Vis-NIR Entdeckern und Hochleistungskameras mit Hochleistungseigentumsdaten ausgestattet, die Fähigkeiten bearbeiten. Das Gerät verfügt zudem über eine mehrdimensionale Mikroskopie, die eine schnelle raue und feine Fokussierung ermöglicht. Mit seinen fortschrittlichen Intensitätsmerkmalen können MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR Wafer- und Maskenfehler zuverlässig erkennen und messen, sodass Anwender zuverlässige Stempelbereiche auf den Materialien schnell erkennen können. Inzwischen machen die fortschrittlichen Chipsatz-Computing-Fähigkeiten der Maschine es ideal für die Überwachung von Masken- und Wafer-Fertigungsprozessen. Durch seinen fortschrittlichen Software-Algorithmus ist DDR-300 NIR besser in der Lage, Fehler für noch mehr Genauigkeit und Effizienz zu erkennen. Es verfügt auch über ein Low-Light-Bildgebungswerkzeug, um Wafer- und Maskenumrisse genau zu zeichnen, sowie ein hochdynamisches Bildgebungsinstrument für die detaillierte Inspektion und Abbildung von gemusterten gelben Materialien und komplexen Backplane-Strukturen. MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR ist auch einfach einzurichten und erfordert eine minimale Wartung, so dass es ideal für belebte Fertigungs- und Forschungseinrichtungen ist. Darüber hinaus kann die Plattform in die vorhandenen Mess- oder Automatisierungsgeräte des Kunden integriert werden, um die Erfassung von Daten über die gesamte Prozesskette hinweg zu erleichtern. Mit seinen fortschrittlichen Funktionen und zuverlässiger Leistung ist DDR-300 NIR das perfekte Werkzeug für präzise Wafer- und Maskeninspektion.
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