Gebraucht MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR #9169499 zu verkaufen

MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR ist ein Masken- und Wafer-Inspektionssystem, das eine hochpräzise automatisierte Fehlererkennung, Klassifizierung und Kartierung für alle einfallenden Schichten einer Maske oder eines Wafers bietet. Mit den zerstörungsfreien Techniken von Near Infrared (NIR) ist es in der Lage, Defekte bei einer Unterwellenlänge von 0,13 Mikrometern zu erkennen. Die integrierte NIR-Technologie beleuchtet Proben mit einer Reihe von NIR-Licht, das dann von einem spezialisierten ladungsgekoppelten Gerät (CCD) analysiert wird, um Fehlersignaturen zu erkennen und zu lokalisieren. DDR-300 NIR-System bietet einen kompletten Satz von Wafer-Inspektionsmöglichkeiten, einschließlich automatischer Erkennung und Charakterisierung für Wafer-Defekte, Elektromigration, Prozessintegration und CD-Messung. Es bietet auch eine vollständige Softwareintegration mit der Focalpoint Suite von MCBAIN, die Waferinspektions-, Integrations- und Bildverarbeitungsfunktionen für eine feinere Bildauflösung bietet. Neben der Fehlererkennung bietet MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR auch umfassende messtechnische Funktionen wie Oberflächenanalyse, Overlay, BDQ (Bias Dependent Quantum-Leap) -Korrektur und vieles mehr. DDR-300 NIR bietet flexible Konfigurationsoptionen wie eine präzise mehrachsige Stufe, die höchste Präzision bietet. Es kommt auch mit einer Reihe von Detektor- und Bildgebungsoptionen, einschließlich: Pixel-Pitch-In-Fokus- und Off-Focus-Detektoren, Multi-Kamera-Bildgebungsoptionen für eine erhöhte Fehlerabdeckung und modernste Software-Algorithmen. Es verfügt außerdem über eine Bereichs- und Zeilenabtaststufe für maximale Fehlerabdeckung. MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR bietet zudem eine benutzerfreundliche Bedienung. Es integriert ein QWERTY-Membran-Touch-Pad und ein 16-Zoll-LCD-Farbmonitor bietet eine klare Sichtbarkeit von Fehleranalysen. Die Bequemlichkeit der Benutzeroberfläche reduziert die Ermüdung des Benutzers und ermöglicht es Benutzern, Fehler leicht zu erkennen und zu lokalisieren, auch auf schwer erreichbaren Bereichen der Oberfläche. Insgesamt ist DDR-300 NIR ein zuverlässiges System, das über vollständige und zuverlässige zerstörungsfreie Techniken verfügt, um Waferdefekte mit 0,13 Mikrometer Auflösung und umfassender Fähigkeit zur Fehlererkennung, Charakterisierung und Kartierung zu identifizieren. Es ist ideal für die Herstellung hochwertiger und zuverlässiger Produkte, die den Kundenanforderungen und Industriestandards entsprechen.