Gebraucht MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR #9180196 zu verkaufen

ID: 9180196
SWIR Inspection system, 12" Defect detection Single cassette 8” Wafer loader / Unloader with (4) axis robot Pre-aligner Wafer cassette mapping Under / Over OCR cameras Objectives: 5x, 10x, 20x, 50x camera sensor In-GaAs: 900nm - 1700nm sensitivity inspection Analysis: Bonded wafer alignment Die alignment (flip-chip or hybridization) Subsurface, defect visualization, detection Characterization: MEMS Device Inspection and metrology: 3D Stacking Process development and control: Integrated CD / Dimensional metrology Application-specific customization software: Semi standard S2/S8.
MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR ist eine Mask & Wafer Inspektion Ausrüstung, die automatisierte Inspektion von Wafern und Masken bietet. Es verfügt über ein modernes Systemdesign, das für Produktionsanwendungen optimiert ist. Das Herz DDR-300 NIR ist eine fortschrittliche Hochgeschwindigkeitskamera, die Infrarotlicht aufzeichnet, das durch einen Wafer oder eine Maske läuft. Diese fortgeschrittene Abbildungseinheit scannt schnell das Muster auf dem Gerät und vergleicht es dann mit bekannten Mustern, um Anomalien in der Struktur oder Merkmalen des Musters zu erkennen. MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR können sowohl Wafer als auch Masken inspizieren. Bei der Waferinspektion führt die Maschine eine berührungslose Überprüfung der Oberflächengleichförmigkeit und Struktur des Wafers durch. Bei der Maskeninspektion verwendet das Tool seine Infrarotrezeptoren, um das Muster, Schicht für Schicht, mit dem ursprünglichen Muster zu erfassen und zu vergleichen, das entwickelt wurde, um Diskrepanzen effektiv zu identifizieren. DDR-300 NIR verfügt über mehrere zusätzliche Funktionen, um die Fehlererkennung zu optimieren. Das Asset verwendet fortschrittliche Algorithmen und Bildverarbeitungstechniken, um nahezu unmerkliche Fehler genau zu erkennen und zu unterscheiden, wodurch die Inspektionszeit verkürzt und die Ergebnisse mit größerer Genauigkeit bereitgestellt werden. MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR unterstützt eine Vielzahl von Wafer-Fotoformaten und kann die erforderlichen Parameter automatisch erkennen und anpassen. Der Bilderfassungsprozess ist schnell und effizient, so dass Produktionszyklen schnell und zuverlässig sind. Die benutzerfreundliche Oberfläche auf DDR-300 NIR beinhaltet eine intuitive Touch-Menü-Navigation und passt Befehle an, die schnell eingerichtet werden können. Das Modell speichert auch automatisch getestete Daten und gemessene Bilder auf seiner SD-Speicherkarte, so dass Daten schnell zur Überprüfung und Analyse abgerufen werden können. Das Gerät verfügt auch über ein I/O-Board und einen LCD-Touchscreen, der eine schnelle Kommunikation zwischen dem System und dem Client für schnelle Vor-Ort-Updates ermöglicht. MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR Mask & Wafer Inspection Unit ist für eine schnelle, zuverlässige und kostengünstige Prozesssteuerung ausgelegt. Die Maschine erfüllt alle Sicherheits- und Qualitätsstandards der Industrie und bietet eine effiziente Lösung für die Qualitätskontrolle der Produktionslinie. Mit seinen fortschrittlichen Bildgebungsfunktionen, der präzisen Fehlererkennung, der intuitiven Benutzeroberfläche und einer breiten Palette unterstützter Wafer-Fotoformate ist DDR-300 NIR ein wesentliches Werkzeug für jede Produktionslinie.
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