Gebraucht MCBAIN SYSTEMS Z III #293762009 zu verkaufen

MCBAIN SYSTEMS Z III ist eine automatisierte Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die Kunden eine zuverlässige und genaue Lösung für hochpräzise Messungen integrierter Schaltungen bietet. Das Z III-System basiert auf einem kundenspezifischen CCD-basierten Inspektionskopf, der es ermöglicht, isolierte Geometrien, Merkmale und Prozesse von Wafer und Maske mit hoher Genauigkeit zu messen. Die Konstruktion der Einheit berücksichtigt Herausforderungen, die mit den komplexeren Geometrien von Transistoren, Leitern und Polysilizium-Merkmalen verbunden sind. MCBAIN SYSTEMS Z III bietet eine breite Palette von Messfunktionen, sowohl absolut als auch relativ, für die Auswertung von KE-Größe, Musterformen, Linienbreiten, Steigung und anderen KEs. Die Maschine ist so konzipiert, dass sie hocheffizient und präzise ist, selbst in Anwendungen, in denen herkömmliche Inspektionsmethoden fehlgeschlagen sind. Das Z III-Tool verwendet die neueste CCD-Technologie, um jede Form eines Wafers oder einer Maske in einem einzigen Arbeitsgang zu überprüfen. Das Asset misst einen Wafer oder eine Maske innerhalb einer maximalen Flächenfalte von 10x10cm. Das Modell verwendet auch spezielle Algorithmen für das Schritt- und Fensterscannen. Hierdurch können kreisförmige Merkmale, die sonst schwer zu erkennen sind, maximal erkannt werden. Dies bietet auch Messungen, die genau und präzise sind, auch bei feineren Auflösungen. MCBAIN SYSTEMS Z III enthält eine Reihe von benutzerdefinierten Algorithmen, so dass der Benutzer die Geräte abstimmen kann, um die Leistung zu optimieren. Dazu gehören intelligente Filteralgorithmen, die Hintergrundinformationen unterdrücken, um Kanten- und Fehlerinformationen genau zu identifizieren. Diese Funktion ist besonders nützlich bei der Auswertung von Kanten, da sie hilft, die Genauigkeit von Mikroverarbeitungsfehlern zu erhöhen. Das System wird mit einem Farbmonitor visualisiert, wodurch der Benutzer eine intuitive und einfache Benutzeroberfläche erhält. Der Monitor zeigt alle Messwerte jeder Matrize innerhalb einer organisierten Tabelle an. So können Zielparameter schnell und präzise ausgewertet werden. Z III-Einheit gibt dem Benutzer auch die Möglichkeit, Bilder von inspizierten Wafern und Masken sowie die relevanten Werte und Kriterien für die Bewertung zu speichern. Abschließend integriert die Maschine eine Reihe fortschrittlicher Technologien, um ein leistungsfähiges und zuverlässiges Inspektionswerkzeug für die Wafer- und Maskenmessung bereitzustellen. Es ist kompakt und einfach zu bedienen, so dass Kunden ihre Geräte mit Genauigkeit und Geschwindigkeit zu überprüfen. Darüber hinaus bietet MCBAIN SYSTEMS Z III Anwendern eine umfassende Palette von Tools zur Bewertung ihres Prozesses auf Fehler oder Mängel.