Gebraucht METRICON PC 2010 #9244730 zu verkaufen

ID: 9244730
Weinlese: 2000
Prism coupler Wafer measurement: Refractive index Thickness: Thin films layer stack Dual film measurements Localization of modes in waveguides Measurable refractive index: 2.45 Operating wavelength: 632.8 nm, 1320 nm & 1554 nm 2000 vintage.
METRICON PC 2010 ist eine automatisierte Masken- und Waferinspektionsanlage zur Inspektion von hochauflösenden lithographischen Bildern. Das System ist in der Lage, Anomalien und andere Fehler in nahezu Echtzeit zu erkennen, wenn der Wafer gescannt wird. Die PC-Version ist die beliebteste in der Serie wegen seiner niedrigen Kosten und seine Fähigkeit, schnell eine Vielzahl von Fehlern zu erkennen. Die PC-Version des Geräts verwendet metrikbasierte Scansoftware, um Bilder des Wafers mit hohen Geschwindigkeiten zu erfassen. Diese Bilder werden mit 3 Mikrometern aufgenommen, so dass selbst kleinste Anomalien identifiziert werden können. Die Software berücksichtigt auch die Umgebung, in der sie platziert ist, um genaue Ergebnisse zu gewährleisten. Die Maschine ist in der Lage, eine Vielzahl von Waferdefekten zu erkennen, einschließlich Kratzer, Gruben, Höcker und Fremdstoffe. Es kann auch Niederspannungssignale erkennen, so dass das Werkzeug Probleme erkennen kann, die möglicherweise einen Chipausfall verursachen könnten. Neben seiner hohen Geschwindigkeit und Genauigkeit verfügt das Asset über einen geringen Stromverbrauch. Dies hilft, die Betriebskosten zu senken und gleichzeitig sicherzustellen, dass das Modell ohne Unterbrechung kontinuierlich laufen kann. Die Ausrüstung ist äußerst zuverlässig ausgelegt und leistungsfähig. Es verfügt auch über eine intuitive Benutzeroberfläche, so dass auch die meisten Anfänger von Benutzern schnell an das System gewöhnt werden, ohne zu viel Zeit in Anspruch zu nehmen. Das Gerät wurde so konzipiert, dass es mit einer Vielzahl anderer branchenüblicher Technologien und Softwarepakete kompatibel ist, was eine bessere Zugänglichkeit und einfachere Integration ermöglicht. Insgesamt ist METRICON PC-2010 ein wesentliches Werkzeug für die Inspektion fortschrittlicher lithografischer Bilder und liefert schnelle und genaue Ergebnisse. Mit seinen niedrigen Kosten und der hohen Leistung ist es zum Industriestandard für Masken- und Waferinspektion geworden.
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