Gebraucht MICRO-EPSILON IF C2400 #135299 zu verkaufen

MICRO-EPSILON IF C2400
ID: 135299
Bow warp measure inspection system.
MICRO-EPSILON IF C2400 ist eine fortschrittliche Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die von MICRO-EPSILON, einem führenden Innovator in der Fabrikautomation und industriellen Prozessmesstechnik, entwickelt wurde. Es ist ein automatisiertes Compact Inspection System, das überlegene Inspektionsleistung und schnelle Investitionsrendite bietet. Das Gerät verfügt über ein Dual-Objektiv-Design mit variablem Zoom, einem integrierten Laser und einer leistungsstarken optischen Filterauswahl, um kleine kritische Komponenten zu überprüfen und das Sichtfeld auf Weitwinkelanforderungen auszurichten. Die Maschine wurde entwickelt, um beschädigende Defekte an einer Siliziummaske oder Wafer-Baugruppen, wie Brüche, Kratzer und Partikelverunreinigungen zu überprüfen. IF C2400 verwendet eine Stereo-Prüfplattform, die die Erfassung zweidimensionaler Bilddaten jedes Punktes auf dem Gesicht der Maske oder des Wafers ermöglicht. Dieser Prozess wird monochrome Bildgebung genannt. Die erfassten Daten werden mit zuvor erfassten Referenzbilddaten verglichen, um Änderungen in der Oberflächengestaltung und an den Defekten der Maske oder des Wafers zu erkennen. Das Werkzeug ist in der Lage, Auffälligkeiten zu erkennen, die typischerweise kleiner als ein Mikron oder 1/1000 Millimeter sind. Das Asset kann verwendet werden, um eine breite Palette von Wafer- und Maskengrößen von Stoßfängern bis zu Speicherzellen und von quadratisch bis rechteckig zu überprüfen. MICRO-EPSILON IF C2400 bietet eine automatische und manuelle Ausrichtung des Sichtfeldes, um Flexibilität für jede Anwendung zu gewährleisten. Sowohl dynamische als auch statische Inspektionsmöglichkeiten werden unterstützt. Das Modell verfügt auch über eine breite Palette von Betriebsparametern, die auf maximale Leistung und Genauigkeit eingestellt werden können. IF C2400 umfasst automatisierte Testverfahren, Bilderfassung und -vergleich, Ergebnisdokumentation und statistische Analyse. Die intuitive Windows-basierte Software ermöglicht es dem Benutzer, sich auf Produktentwicklungs- und Entwicklungsziele zu konzentrieren. Um höchste Genauigkeit und Leistung zu gewährleisten, umfasst MICRO-EPSILON IF C2400 eine Reihe anspruchsvoller optischer und mechanischer Komponenten wie adaptive Optik, dynamische Kontraststabilisierung und ein hochauflösendes Sensorarray. Das Gerät bietet zudem einen verbesserten Umweltschutz durch Luftfiltrationssystem, Temperaturregelung und Leistungsisolierung. Last, but not least ist das Gerät schnell und erschwinglich, so dass es eine ausgezeichnete Lösung für Maske und Wafer Inspektion Anforderungen.
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