Gebraucht NANOMETRICS 210 XP #9185099 zu verkaufen

NANOMETRICS 210 XP ist eine leistungsstarke, automatisierte Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die sowohl manuelle als auch automatisierte Fehlerüberprüfungen und die schnelle Klassifizierung von Fehlern ermöglicht. Es bietet eine effektive und effiziente Lösung, um potenzielle ertragsbegrenzende Fehler durch Prozessvariationen zu identifizieren. NANOMETRICS 210XP kombiniert automatisierte Fehlererkennung mit Bildanalyse, um Fehler schnell zu identifizieren, zu analysieren und zu klassifizieren, die die Zykluszeit für Masken- und Wafererträge erheblich reduzieren können. Die proprietäre Bilderkennungssoftware, das hochauflösende Bildgebungssystem und umfassende Inspektionsregeln liefern kritische Daten für eine schnelle und genaue Fehlererkennung. 210 XP kombiniert eine leistungsstarke Reihe von Software-Tools, einschließlich Fehlerverfolgung, Bildanalyse und Diagnose. Das automatisierte Fehlererkennungsverfahren soll potenzielle ertragsbegrenzende Defekte schnell identifizieren und nach Typ, Größe und Form klassifizieren. Die Software bietet den Betreibern auch detaillierte Informationen über das Masken- und Wafer-Layout und bietet eine umfassende Zusammenfassung aller Defekte in der Maske oder dem Wafer. Die optische Maschine des Geräts verfügt außerdem über einen leistungsstarken konfokalen Abbe-Profildetektor, der den Anwendern eine Auflösung auf Submikronebene bietet, sowie über eine Waferkompensationsstufe und ein Sichtfeld, mit dem Benutzer den gesamten Wafer gleichzeitig betrachten können. Es bietet Anwendern flexible Bildverarbeitungsmodi, die die Inspektion verschiedener Strukturen wie Matrizen, Kanten, Stöße und Nadelöcher ermöglichen. 210XP bietet Anwendern eine außergewöhnliche Kontrolle und Flexibilität gegenüber ihrem Inspektionsprozess. Seine anpassbaren Bildüberprüfungsparameter ermöglichen es dem Bediener, das Tool einfach auf seine spezifischen Anforderungen einzustellen, und die benutzerfreundliche Oberfläche des Objekts vereinfacht den Datenüberprüfungsprozess. NANOMETRICS 210 XP ist ideal für Halbleiterhersteller und Forschungs-/Entwicklungseinrichtungen, die eine automatisierte Fehlererkennung und -klassifizierung benötigen. Es bietet eine zuverlässige, effiziente Inspektions- und Fehlermanagementlösung für Branchen, die höhere Inspektions- und Ertragsraten benötigen.