Gebraucht NANOMETRICS 8000XSE #293743932 zu verkaufen

NANOMETRICS 8000XSE ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die entwickelt wurde, um hochpräzise Nanometer-Skala-Bildgebungs- und Messfähigkeiten bereitzustellen. Das System verwendet In-Pixel Binning, Big Pixel Binning, Splitting und Super-Sampling-Techniken, um eine beispiellose Datengenauigkeit zu erreichen. Es ist mit fortschrittlicher automatisierter Kalibrierung und einer einfach zu bedienenden grafischen Benutzeroberfläche ausgestattet, die eine schnelle und genaue Bildanalyse ermöglicht. Die Einheit besteht aus einem optischen Modul, einer z-Stufe und einem Abtastkopf mit integrierter telezentrischer Linse. Das optische Modul ist in der Lage, je nach Anwendung hochauflösende Bilder von wenigen Nanometern bis zu Hunderten von Nanometern zu liefern. Der Abtastkopf ist aus einer drehbaren Achse und einer linearen Achse aufgebaut und liefert einen Submikron-Genauigkeitsgrad für Bildgebung, Messung und Steuerung. Zusätzlich bietet die z-stage die Plattform zur genauen Erkennung und Analyse von Feinmerkmalen. NANOMETRICS 8000 XSE ermöglicht die berührungslose Messung von strukturierten Strukturen auf verschiedensten Substraten. Diese Maschine ermöglicht die Fehlermessung bis zu einem Sub-10 nm-Bereich bei Verwendung einer feinen Bildauflösung. Bei der Integration mit einem Oberflächenprofiler kann das Werkzeug auch detaillierte Oberflächeninformationen zu breiten Strukturen liefern und bietet bessere Signal-Rausch-Verhältnisse. Die Anlage ist für mehrere Nanometer-Inspektions- und Messanwendungen geeignet. Dazu gehören Mustererkennung, optische Inspektion, Overlay oder Registrierung, Röntgenbeugung (XRD) oder Elektronenmikroskopie (EM) sowie andere messtechnische und Inspektionsaufgaben. Darüber hinaus kann es die Erfassung und Analyse von Mustermerkmalen automatisieren und ermöglicht eine effiziente und kostengünstige Nanoprüfung. Dieses Modell kann auch für Partikelgrößenmessungen und chemische Analysen verwendet werden. 8000XSE ermöglicht auch Großfeldbildgebung und -messung. Mit diesem Gerät können Anwender einen ganzen Wafer inspizieren, ohne die Genauigkeit und Auflösung einzelner Funktionen zu beeinträchtigen. Darüber hinaus unterstützt die bildgebende Software die Analyse von 3D-Modellen, einschließlich Messungen aus Querschnittsbildern, und ermöglicht tiefere Einblicke in Musterdetails. Weiterhin können die Daten aus diesem System in computergestützte Konstruktionsprogramme (CAD) importiert werden. Insgesamt ist 8000 XSE eine hochentwickelte und zuverlässige Masken- und Wafer-Inspektionseinheit, die eine Reihe von Inspektions-, Mess- und Analysefunktionen bietet. Diese Maschine ermöglicht berührungslose Nanometer-Inspektion und effiziente automatisierte Analysefunktionen, die für fortschrittliche Forschung und industrielle Anwendungen entscheidend sind.