Gebraucht NANOMETRICS 8300X #9219449 zu verkaufen
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ID: 9219449
Film thickness analyzer
Wafer P/N:
7000-0519
7200-2161
7200-2193
J.A. WOOLLAM LPS-400
J.A. WOOLLAM M-44
KENSINGTON 25-3700-1125-04 Robot
TOSHIBA 1500 Series.
NANOMETRICS 8300X ist ein bahnbrechendes Masken- und Wafer-Inspektionssystem, das von NANOMETRICS Incorporated entwickelt wurde. Dieses hochmoderne System ist in der Lage, eine Vielzahl von Masken- und Waferfunktionen mit hoher Genauigkeit zu überprüfen. Es bietet höchste Sensibilität, Details und Auflösung für kreative Prozess- und Produktentwicklungsanwendungen. 8300X ist mit einer hochflexiblen Architektur konzipiert, die an die Erfordernisse des Prüfprozesswechsels angepasst werden kann. Sein modularer Scanner ist für verschiedene Masken- und Wafertypen konfigurierbar, wie Rückseitenhaut und Sputterwafer. NANOMETRICS 8300X verfügt über eine fortschrittliche Technologie zur Erkennung von Funktionen, mit der komplexe Formen und Muster leicht erkannt und isoliert werden können. Unter Verwendung einer Kombination von multispektralen Bildgebungstechniken, einschließlich Fluoreszenz, UV-Bildgebung und Standard-Bildgebung, ist 8300X in der Lage, eine breite Palette von Funktionen zu überprüfen. Die spektrale Bildgebungstechnologie ermöglicht die Erkennung von Wegen und Funktionen, was für erfolgreiche Anwendungen zur Designvalidierung entscheidend ist. Es ermöglicht auch eine genaue Messung von Grundstrukturen wie Linien, Rechtecken und Kreisen. Darüber hinaus verfügt NANOMETRICS 8300X über eine Vielzahl leistungsfähiger Software-Tools zur Prozesskontrolle, Fehleranalyse und Berichterstattung. Seine Prozesssteuerungsfunktionen umfassen automatische Fehlerklassifizierung, automatisierte Linienbreitenmessungen, Binning-Analyse und vieles mehr. Für eine detaillierte Fehleranalyse verfügt 8300X über eine Reihe von Fehleranalyse-Tools, einschließlich Partikelverfolgung, Funktionsgrößenanalyse und Fehlersuchwerkzeuge. Schließlich bietet NANOMETRICS 8300X umfassende Reporting-Funktionen, mit denen Anwender die Ergebnisse ihres Masken- und Wafer-Inspektionsprozesses schnell zusammenfassen und visualisieren können. Insgesamt bietet 8300X ein hohes Maß an Empfindlichkeit, Auflösung und Genauigkeit für die Inspektion von Masken- und Waferfunktionen. Mit seinen erweiterten Funktionen, Fehler- und Prozesskontrolltools sowie seinen umfassenden Berichtsfunktionen bietet es die perfekte Lösung für die Bewertung der Produktionsleistung, Prozessoptimierung und schnelle Konstruktionsprüfung.
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