Gebraucht NANOMETRICS 9010 #9213384 zu verkaufen

NANOMETRICS 9010 ist eine leistungsstarke Masken- und Waferinspektionsanlage zur schnellen automatischen Erkennung von Defekten in den heute immer komplexeren Halbleiterherstellungs- und Forschungsprozessen. Dieses System nutzt eine automatisierte Wafer-Inspektionseinheit mit automatisierten Software-Algorithmen, um Produktionswafer schnell und genau zu scannen und zu analysieren. 9010 ist in der Lage, verschiedene Defekte und Anomalien wie Kratzer, Durchgangslöcher, Verunreinigungen und Druckfehler zu erkennen und die Zykluszeit, die Chipausbeute und die Prozesskontrolle zu verbessern. Die Maschine ist hocheffizient in Bezug auf Datenerfassungsgeschwindigkeit und -genauigkeit und verfügt über eine benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche und eine Vielzahl von Automatisierungswerkzeugen. Es wurde entwickelt, um die anspruchsvollsten Inspektionsanforderungen zu erfüllen und kombiniert fortschrittliche Bildgebungsfunktionen mit produktiver Scantechnologie. Das Werkzeug umfasst eine Anordnung von Digitalkameras und parallel angeordneten Sensoren. Die Kameras sind mit hochauflösenden optischen Filtern verbunden, um nicht sichtbare Parameter wie Infrarot, Ultraviolett und Elektronenemission mit einer Genauigkeit von mehr als 1um zu erfassen. Während des Inspektionsprozesses erfasst das Asset Bilder jedes Wafers an mehreren Stellen und Winkeln und vergleicht sie dann mit integrierten Standarddaten. NANOMETRICS 9010 verfügt zudem über eine fortschrittliche Mustererkennungstechnologie, mit der selbst extrem schwache Defekte erkannt werden können. Dadurch entfällt die manuelle Überwachung und es wird sichergestellt, dass Fehler beseitigt werden, bevor weitere Produktionsschritte eingeleitet werden. Dadurch werden alle festgestellten Fehler schnell und effizient erfasst und behoben, wodurch der Ertrag optimiert und Zeit und Ressourcen gespart werden. 9010 Masken- und Wafer-Inspektionsmodell bietet eine benutzerfreundliche Oberfläche und leistungsstarke bildgebende Funktionen zur Automatisierung der Fehlererkennung für verbesserte Chipausbeute und Kosteneinsparungen