Gebraucht NANOMETRICS CTS-102 #9397735 zu verkaufen

NANOMETRICS CTS-102
ID: 9397735
Film thickness measurement system.
NANOMETRICS CTS-102 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die entwickelt wurde, um die Qualität von Wafern mit manueller und automatisierter Leistung zu messen und zu charakterisieren. Das System besteht aus einer Inspektionsstufe, einem PC-basierten Host-PC und einem Controller. Die Inspektionsstufe besteht aus einem hochpräzisen optischen Feinfokuskopf, einem Drehsteuerautofokus und einem 8 "LCD-Monitor zur Beobachtung. Zusätzlich zu diesen Komponenten ist das Gerät mit einem Luftfilter und einem Druckregler für Reinluftbetrieb, einem Temperaturregler für die Kammer, einem Temperaturkalibrator und einem Backup-Ladegerät ausgestattet. Der Host PC ist das Herzstück von CTS-102 und stellt der Maschine die notwendigen Hardware- und Softwarekomponenten zur Verfügung, um die Messaufgaben zu erledigen. Es läuft unter Windows 7 oder 8 und ist mit mehreren externen Geräten wie einer digitalen Ausleseeinheit und einem externen Controller für den optischen Kopf verbunden. Alle Komponenten lassen sich einfach über die GUI des Host-PCs bedienen. Die Steuerung ist so ausgebildet, dass die Leistung des Werkzeugs verbessert wird. Es verfügt über eine Echtzeit-Monitor- und Steuerschnittstelle, mit der Bediener das gesamte Asset per Knopfdruck steuern können. Es liefert auch Feedback zu den Prozessparametern, wie z.B. zu Temperatur, Druck und optischer Kopfabtastung. Das Modell ermöglicht es Benutzern, eine Vielzahl von Parametern zu messen, wie Dicke und Gleichmäßigkeit der Schichten, Oberflächenfehler sowie Verschmutzungsstufen. Das Gerät bietet auch Bildaufnahmefunktionen, so dass der Bediener Berichte auf der Grundlage der während des Inspektionsprozesses aufgenommenen Bilder erstellen kann. Die während des Prozesses erzeugten Bilder werden in einem JPEG-Format gespeichert, wodurch der Benutzer sie einfach mit anderen Stakeholdern teilen kann. NANOMETRICS CTS-102 ist ein wichtiges Werkzeug für die Masken- und Waferinspektion, da es ein hohes Maß an Präzision und Genauigkeit für die Messaufgaben bietet. Es ist auch benutzerfreundlich, so dass Benutzer es mit minimaler manueller Eingabe zu bedienen, sowie die Bereitstellung aller notwendigen Funktionalitäten für eine schnelle Analyse der Daten.
Es liegen noch keine Bewertungen vor