Gebraucht NANOMETRICS M-215 #9226306 zu verkaufen

NANOMETRICS M-215
ID: 9226306
Wafergröße: 6"
Weinlese: 1989
Thickness measurement system, 6" 1989 vintage.
NANOMETRICS M-215 ist eine automatisierte Masken-/Wafer-Inspektionsanlage, die eine kostengünstige und zuverlässige Inspektionslösung für jede zweidimensionale, nicht transparente Oberfläche bietet. Das System bietet einen umfassenden Satz von Inspektions- und Fehlererkennungsparametern, einschließlich Funktionen wie: Multi-Fliesen-Inspektionen des gleichen Bereichs für eine verbesserte Zuverlässigkeit. Hochgeschwindigkeits-Scan bis zu 0,5 Gigapixel/Sekunde. Umfassende Fehlererkennung, die Defekte von 0.1um bis 50um in der Größe abdeckt. Automatisierte Kalibrierroutinen, um eine hohe Zuverlässigkeit der Ergebnisse zu gewährleisten. Stabile Umgebung für Temperaturkonsistenz und verbesserte Stabilität. Flexibles Feature-Set mit automatischer Fehlererkennung, automatisierter Montage, automatischer Fehlerklassifizierung, 3D-Registrierung und fortschrittlicher Mustererkennung. Umfassende Analyseparameter mit einer Vielzahl von Anzeigeoptionen. Anwendungsunabhängige Platform mit einfacher Integration von benutzerdefinierten Anwendungen. M-215 Einheit ist für den Einsatz in der Halbleiter- und MEMS-Industrie zur Inspektion von strukturierten Wafern und Masken bis 12 Zoll Größe konzipiert. Die Masken-/Wafer-Inspektionseinheit besteht aus einem Schlitzabtastkopf, einer Abbildungsplatte und einem optionalen Aufgabenanwendungsmodul, einer Steuereinheit und einem Schnittstellenlaptop. Der Spaltabtastkopf ermöglicht eine Hochgeschwindigkeits-Bildaufnahme von bis zu 0,5 Gigapixel pro Sekunde, während die Bildplatte für eine gleichmäßige Bildintensität sorgt. Das optionale Aufgabenanwendungsmodul ermöglicht es dem Anwender, verschiedene Parameter für den Inspektionsalgorithmus zu definieren. Automatisierte Kalibrierroutinen sind auch verfügbar, um konsistente und zuverlässige Ergebnisse aus mehreren Inspektionen zu gewährleisten. Die Steuereinheit stellt eine Schnittstelle zwischen dem Laptop des Benutzers und der Maske/Wafer-Inspektionsmaschine zur Verfügung. Darüber hinaus bietet das Interfacing-Notebook eine Vielzahl von Funktionen zur Analyse und Überprüfung der vom Tool erfassten Daten. Abschließend ist NANOMETRICS M-215 eine kostengünstige und zuverlässige Masken- und Waferinspektionsanlage, die einen umfassenden Satz von Inspektions- und Fehlererkennungsparametern bietet. Seine Mehrfliesen-Inspektionen des gleichen Bereichs, schnelle Scangeschwindigkeit, automatisierte Kalibrierroutinen und Flexibilität ermöglichen eine schnelle und genaue Fehlererkennung jeder zweidimensionalen intransparenten Oberfläche. Es ist eine ideale Wahl für die Halbleiter- und MEMS-Industrie.
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