Gebraucht NANOMETRICS NANOLINE CD 50 #142750 zu verkaufen

NANOMETRICS NANOLINE CD 50 ist eine leistungsstarke und präzise Wafer und Maske Inspektion Ausrüstung entwickelt, um die elektrische Integrität der Halbleiter Herstellungsverfahren zu überprüfen. Das System nutzt hochwertige, hochmoderne optische Bildgebungstechnologie, um maximale Flexibilität bei der Konstruktion und Herstellung von Halbleiterbauelementen für verschiedene Anwendungen zu bieten. NANOLINE CD 50 Einheit hat eine Arbeitsfläche von 4 Zoll mal 6 Zoll und ist in der Lage, bis zu 10x Vergrößerungen. Es ist mit erweiterten Farb- (CIE) und Helligkeits- (CIB) Echtzeit-Bildgebungsfunktionen ausgestattet, um eine präzise Qualitätskontrolle der Wafer- und Maskenherstellungsprozesse zu gewährleisten. Die Hochleistungs-Bildgebungstechnologie der Maschine ermöglicht eine schnelle und genaue Schadstofferkennung, Oberflächenmessung und Fehleranalyse. NANOMETRIE NANOLIN CD 50 nutzt je nach Aufgabenstellung auch Ein- oder Zweigatterbetrieb. Dies bietet maximale Flexibilität bei der Inspektion von Wafern mit unterschiedlichen Dicken und Strukturen. Das Tool ist auch mit einer Reihe von zusätzlichen Funktionen, einschließlich einer hochintensiven ultravioletten (UV) Quelle, Teflon und Edelstahl Frontplatte, vier statische Plattform, hochauflösende Sensoren und voll programmierbare Laser Trigger Verzögerungen. NANOLINE CD 50 Asset verfügt über eine hochauflösende Optikplattform, gekoppelt mit High-End-Optik, um genaue und zuverlässige Messergebnisse zu gewährleisten. Es ist mit einer einfach zu bedienenden Schnittstelle für einfache Einrichtung und Überwachung ausgestattet. Das Modell verwendet auch fortschrittliche Bildverarbeitungsalgorithmen, um präzise Bilddaten bereitzustellen, die eine schnelle und detaillierte Analyse von Halbleiterbauelementen ermöglichen. Darüber hinaus sind die Geräte mit einer breiten Palette von Software- und Hardwareplattformen nach Branchenstandard kompatibel und ermöglichen maximale Flexibilität bei der Implementierung automatisierter Operationen und Qualitätskontrolle. NANOMETRIE NANOLIN CD 50 ist ein wichtiges Werkzeug zur Überwachung und Steuerung von Halbleiterherstellungsprozessen. Durch präzise Inspektionsmöglichkeiten und automatisierte Qualitätskontrolle trägt das System zur Gewährleistung der Produktqualität und -konsistenz bei. Es ist eine ausgezeichnete Wahl für kleine und große Halbleiterherstellungsvorgänge und ist eine zuverlässige und kostengünstige Lösung für die Prozessoptimierung und Kostensenkung, die erforderlich sind, um auf dem Halbleitermarkt wettbewerbsfähig zu bleiben.