Gebraucht NANOMETRICS NANOLINE CD 50 #9166570 zu verkaufen

NANOMETRICS NANOLINE CD 50 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage der nächsten Generation, die auf die Anforderungen moderner Halbleiterproduktionslinien zugeschnitten ist. Entwickelt mit den neuesten Fortschritten in Optik, Sensoren, Bildgebung und Automatisierung, ist das System in der Lage, schnelle, zuverlässige und genaue Inspektion und Messtechnik für eine Vielzahl von Anwendungen zu liefern. Aus Sicht der Basisarchitektur ist NANOLINE CD 50 eine vollautomatisierte, PC-gesteuerte und in sich geschlossene Inspektionsstation, die mit einem hochmodernen Zeiss-optischen Mikroskop, einem Relion-Mikroprozessor und einem Industrieroboter ausgestattet ist. Die industrielle lineare Stufe ermöglicht eine hochpräzise Positionierung von Wafern, so dass das Gerät jedes Gerät genau scannen kann. Zusätzlich ist die Maschine in der Lage, Wafer bis zu 5 Zoll Durchmesser und bis zu vier Substrate gleichzeitig für einen maximalen Durchsatz von 40 Substraten pro Stunde abzubilden. Die fortschrittlichen bildgebenden Komponenten des Werkzeugs sorgen für eine hochauflösende Prüfung von Geräten. Das Zeiss-Mikroskop ist mit einem Sichtfeld von 14mm x 10mm ausgestattet und bietet ein Bild mit 73 nm Pixelgröße. Eine intensivierte CCD-Kamera erfasst gleichzeitig Bilder von Wafern mit bis zu 48 Millionen Pixeln Auflösung, was zu einer extrem hohen Bildqualität führt. Die Bildanalyse-Algorithmen der NANOMETRICS NANOLINE CD 50 basieren auf Merkmalserkennung, Bildsegmentierung und Klassifizierung, Farb- und Kontrastanalyse. Der Vermögenswert ist auch in der Lage, eine erweiterte Mustererkennung und -klassifizierung zu ermöglichen, die eine genaue Überprüfung komplexer Muster wie Vias, Kontakte und andere nanoskalige Strukturen ermöglicht. Zur Verbesserung der Effizienz kann NANOLINE CD 50 in ein größeres automatisiertes Modell integriert werden. Darüber hinaus ist das Gerät in der Lage, mit anderen Systemen oder Geräten zu kommunizieren und Daten und Ergebnisse über das Internet oder andere Netzwerke zu übertragen. Das System ist kompatibel mit einer Vielzahl von Betriebssystemen wie Windows, Linux und Mac OS X. Insgesamt ist NANOMETRICS NANOLINE CD 50 eine hochentwickelte und anspruchsvolle Masken- und Wafer-Inspektionseinheit, die eine genaue, schnelle und zuverlässige Inspektion und Messtechnik für die fortschrittliche Halbleiterproduktion bietet. Vom hochmodernen Zeiss-Mikroskop bis zu seinen ausgeklügelten Bildanalyse-Algorithmen und seiner Kompatibilität mit der Wertschöpfungskettenautomatisierung ist NANOLINE CD 50 eine überlegene Lösung für jede Anwendung, die eine zuverlässige und genaue Masken- und Waferinspektion erfordert.