Gebraucht NANOMETRICS NanoSpec 181 #63433 zu verkaufen

NANOMETRICS NanoSpec 181
ID: 63433
Wafergröße: 3", 4"
Weinlese: 1986
Film thickness analyzer Model No.: 7000-0092 Measures (11) film types: silicon dioxide, silicon nitride, negative and positive resists, polysilicon, thin oxides and nitrides, and polyimide on silicon Range: 480 to 800nm CS-2 computer Wafer shuttle stage for 3/4" wafers OLYMPUS objectives: 5x/10x/40x M Plan WYSE terminal Voltage: 110V 1986 vintage.
NANOMETRICS NanoSpec 181 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage für eine breite Palette von Halbleiterherstellungsanwendungen. Es verwendet ein proprietäres Bildverarbeitungssystem in Kombination mit einer Reihe von bildgebenden und optischen Systemen, um eine hochpräzise Bildgebung bei nanoskaliger Auflösung zu gewährleisten. Das Gerät führt optische Messungen mit Genauigkeit und Präzision von 1 nm (1 Nanometer) durch. NanoSpec 181 verfügt über eine Waferbühne und eine einzigartige Hexapod-Positioniermaschine, die 6-Achsen-Bewegungssteuerung und überlegene Stabilität bietet. Dies ermöglicht eine hochpräzise Probenausrichtung und eine konstant wiederholbare Messgenauigkeit. Das bildgebende Subsystem von NANOMETRICS NanoSpec 181 basiert auf Zwei-Linsen-Optik mit langer Arbeitsdistanz, ideal für die 3D-Bildgebung. Es wird eine Schritt- und Scan-Technologie mit einer hochauflösenden Zeilenkamera verwendet, die Bilder der Probe aufnimmt, während die Bühne bewegt wird. Die Bilder werden dann in Echtzeit zusammengenäht, um detaillierte 3D-Karten zu erstellen. Die Zeilenkamera bietet eine hohe maximale Bildrate und dynamische Ausrichtung. NanoSpec 181 verfügt auch über einen Makroinspektionsmodus. Auf diese Weise können Benutzer große Bereiche jedes Wafers systematisch auf derselben Detailebene scannen und so ein vollständiges Verständnis ihrer Oberflächenstrukturen ermöglichen. Es stehen mehrere Betriebsarten zur Verfügung, darunter Fehlererkennung, Overlay-Messung und Whisker-Erkennung. NANOMETRICS NanoSpec 181 ermöglicht es Benutzern, notwendige Daten aus verschiedenen Schichten eines Halbleiterbauelements schnell und präzise zu erfassen. Die resultierenden Bilder und Daten können visualisiert, gespeichert und anschließend zur Prozessoptimierung und zur Verbesserung der Geräteausbeute genutzt werden. Das Werkzeug ist einfach zu bedienen und eignet sich ideal, um extrem hohe Genauigkeit, Präzision und Reproduzierbarkeit von Daten zu demonstrieren. Durch die Kombination aus anspruchsvollem Bildverarbeitungsmaterial, innovativer Mechanik und intuitiver Benutzeroberfläche ist NanoSpec 181 ein ideales Modell für präzise, wiederholbare Ergebnisse in der industriellen Halbleiterherstellung.
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