Gebraucht NANOMETRICS NanoSpec 210 #9294764 zu verkaufen

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ID: 9294764
Film thickness measurement system.
NANOMETRICS NanoSpec 210 ist eine umfassende Masken- und Wafer-Inspektionsanlage. Es wurde entwickelt, um höchste Genauigkeit und Präzision für die Nanoskala-Analyse zu liefern. NANOMETRIE NANO SPEC 210 ist ideal für die Prüfanforderungen an die Wafer und Masken. Das System verfügt über eine hochauflösende, hochvergrößerte Säule gepaart mit einfach zu bedienender Software und einer präzise motorisierten X-Y-Stufe für optimierte Musteranalyse und Fehlerinspektion. Der Abbildungsmodus basiert auf einem Wenige-Mikron-Laser mit gebeugtem und reflektiertem Nahfeldlicht, das von der monoklonischen Analyseemissionseinheit gesammelt wird und einen guten Kontrast und eine stabile Bildgebung bietet. Die Maschine ist mit einem ultrahochempfindlichen Sensor ausgestattet, der zu hochauflösenden Bildern führt. Das NanoSpec 210-Tool kombiniert fortschrittliche Technologie und eine interaktive Benutzeroberfläche. Es bietet eine fortschrittliche Aberrationskorrektur, die sowohl die Verbesserung der Bildqualität als auch die Verbesserung der Winkelauflösung umfasst und eine hohe Genauigkeit und Fehlererkennung ermöglicht. Das Asset ermöglicht auch die Integration einer automatisierten Texturerkennung und -klassifizierung, um eine höhere Genauigkeit bei der Fehlererkennung zu erreichen. Das Modell ermöglicht eine einfache und sichere Bedienung mit einem ungiftigen universellen Substrathalter, der eine flache Montage am Waferhalter und eine Vakuumverriegelung ermöglicht. Die Software ermöglicht automatisiertes Wafer-Scannen zur schnellen und genauen Fehlererkennung. Es ist auch mit Funktionserweiterungs- und Analysefunktionen für eine effiziente Maskenanalyse ausgestattet und kann einen genauen Wafer-zu-Wafer-Vergleich durchführen. Kurz gesagt, NANO SPEC 210 ist eine ideale Maske und Wafer Inspektion Ausrüstung aufgrund seiner hohen Auflösung, hohe Vergrößerung Spalte, erweiterte Aberration Korrektur, automatisierte Texturerkennung und Klassifizierung, und effiziente Wafer-Scan. Es ist das perfekte System, um genaue und präzise Nanoskala-Ergebnisse zu erzielen.
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