Gebraucht NANOMETRICS NanoSpec 212 #9198403 zu verkaufen

NANOMETRICS NanoSpec 212 ist eine fortschrittliche Masken- und Waferinspektionsanlage, die zum Testen von Halbleitermikrochips und anderen Elektronikkomponenten verwendet wird. Es ist ein zweidimensionales Inspektionssystem, das berührungslose optische Mikroskopie, Laserinterferometrie und hochauflösende Bildgebung kombiniert, um mikron- und nanoskalige Merkmalsgrößen, Filmdicke und andere Qualitätsparameter genau zu messen und zu visualisieren. Das Gerät ist mit mehreren Inspektionslösungen ausgestattet, darunter 2- und 3-Achsen-Laserinterferometer, berührungslose optische Mikroskope und variabel abgewinkelte Bildaufnahme und -analyse. Das 2-Achsen-Interferometer verfügt über eine sichtbare Lichtquelle mit einer Vielzahl von bildgebenden Auflösungen von 0,5 bis 5,0 Mikrometern. Das 3-Achsen-Interferometer bietet bildgebende Auflösungen von 0,5 bis 30,0 Mikrometer und ist für die 3D-Bildgebung und Messung von Oberflächentextur, Topographie und anderen Oberflächenparametern konzipiert. Das optische Mikroskop bietet bildgebende Auflösungen von 0,1 bis 10,0 Mikrometer und eignet sich zur Abbildung kleiner geometrischer Details. Die Bildaufnahmemaschine mit variablem Winkel wurde entwickelt, um die Bildgenauigkeit und Bildklarheit durch Einstellung des Winkels der Bildaufnahme zu verbessern. NanoSpec 212 ist für eine einfache Bedienung konzipiert und bietet Benutzerrückmeldungen in Echtzeit. Es enthält ein helles, vollfarbiges Touchscreen-Display, das hochauflösende grafische Bildanzeigen bietet. Darüber hinaus ist dieses Werkzeug mit einer Reihe von automatisierten Funktionen, die einen großen Teil der manuellen Arbeit mit Maske/Wafer-Inspektion verbunden entfernen ausgelegt. Beispielsweise führen Funktionen wie automatische Fokusregelung und automatisierte Fehlerkennzeichnung zu einer erhöhten Produktivität und Zeitersparnis. Insgesamt ist NANOMETRICS NanoSpec 212 eine leistungsfähige und zuverlässige Masken- und Waferinspektionsanlage, die hochauflösende Bildgebung, Laserinterferometrie und andere Inspektionslösungen bietet und eine hochgenaue und effiziente Inspektion von Mikrochips und Elektronikkomponenten ermöglicht.