Gebraucht NANOMETRICS NanoSpec 4150 #9105594 zu verkaufen

NANOMETRICS NanoSpec 4150 ist eine Mikroinspektionstechnologie, die fortschrittliche Optik und eine hochauflösende digitale Farbkamera kombiniert, um die Inspektion von Masken und Wafern in der Halbleiterindustrie zu ermöglichen. Das Tool bietet detaillierte Fehlerbilder sowie Werkzeugeinstellungen für bestimmte Fehlerbereiche, um eine dimensionale Auswertung zu ermöglichen. NANOMETRICS NanoSpec-Plattform besteht aus einer hochauflösenden 3-CCD-Kamera und einer LED-Lichtquelle, die einen hervorragenden Bildkontrast und eine hervorragende Auflösung bietet. Die Kamera ermöglicht die gleichzeitige Inspektion von Wafern und Masken bei gleicher Vergrößerung und liefert genaue Fehlerinformationen. Die Multi-Point Image Analyzer (MPIA) Technologie nutzt einen räumlichen Probenahmealgorithmus, um mikroskopische Defekte wie Gruben, vorstehende Körner, Kanten oder Fremdstoffe zu erkennen und zu messen, die schnell nach Größe und Form identifiziert und klassifiziert werden können. NanoSpec 4150 Geräte sind sehr zuverlässig und können extrem präzise Messungen und Auswertungen von Nanodefekten durchführen. Sein ausgeklügeltes Messsystem erfüllt 12,5 μ m x 6,2 μ m Schrittweite und ermöglicht die Integration der strengsten Anforderungen an die Testkonstruktion. Der hochautomatisierte Prozess sorgt dafür, dass präzise Daten schnell und effizient erfasst werden. NANOMETRIE NanoSpec 4150 Einheit hat hohen Durchsatz; Es kann Tausende von Bildern pro Sekunde aufnehmen und bietet eine äußerst zuverlässige Objekterkennung und -inspektion, selbst in extrem anspruchsvollen Anwendungen. Die integrierten Fehlerklassifikations- und Analysealgorithmen können Fremdpartikel schnell identifizieren und ihre Maßeigenschaften, einschließlich Fläche, Durchmesser, Form, Abstand, Winkel und Krümmung, auswerten. NanoSpec 4150 ist mit Bildaufnahme- und Wafermesssoftware ausgestattet, die es Anwendern ermöglicht, Prozessänderungen effizient zu überwachen und detaillierte Informationen über die gemessenen Komponenten bereitzustellen. Darüber hinaus verfügt die NanoSpec-Maschine über die Fähigkeit, Überlagerung und kritische Dimension des Wafermusters im Kontext der festgestellten Fehler automatisch zu messen. NANOMETRICS NanoSpec 4150 bietet eine beispiellose Auflösung und Flexibilität und bietet höchste Qualität und Inspektionsleistung. Die automatische Fehlerklassifizierung und die überlegene Bildauflösung machen es zum idealen Werkzeug, um sowohl Masken als auch Wafer präzise und schnell zu überprüfen, Prozessfehler zu reduzieren und den Ertrag zu verbessern.