Gebraucht NANOMETRICS NanoSpec 6100 #293825987 zu verkaufen

ID: 293825987
Weinlese: 2003
Film thickness measurement system 2003 vintage.
NANOMETRICS NanoSpec 6100 ist eine hochwertige Masken- und Wafer-Inspektionsanlage für die Halbleiterindustrie. NanoSpec 6100 ist eine preisgekrönte, komplette Inspektionslösung, die zur automatischen Fehlerinspektion (ADI) und Oberflächenanalyse in der Lage ist. NANOMETRICS NanoSpec 6100 verwendet ein Hellfeld-Bildgebungssystem, um eine überlegene Bildauflösung für die Masken- und Waferinspektion zu bieten. Das Gerät ist mit einer optimierten Mehrwinkelstreuung ausgestattet, die eine 3D-Charakterisierung komplexer Muster auf einem einzigen Wafer ermöglicht. Die Maschine bietet auch eine breite Palette von Inspektionsparametern und Fähigkeiten, einschließlich Feature Overlap Analysis (FOA), Line Width & Spacing Analysis (LWSA) und Embedded Pattern und Alignment Metrology. NanoSpec 6100 bietet auch flexible messtechnische Möglichkeiten für die Masken- und Waferinspektion. Mit ihm können Benutzer Inspektionsparameter, Leistung und Spotgröße anpassen, um Wafer-Review und Chip-Leistung zu optimieren. Darüber hinaus ermöglicht eine erweiterte 3D-Rekonstruktion es Benutzern, Überhang, CD-Variation, Neigung und Verschiebung auf höhere Erträge zu untersuchen. Darüber hinaus ist NANOMETRICS NanoSpec 6100 ein hochautomatisiertes Inspektionswerkzeug, das für schnelle und genaue Ergebnisse bei minimalem Benutzereingriff konzipiert ist. Es verfügt über eine saubere, intuitive Benutzeroberfläche mit einer einfach zu bedienenden grafischen Benutzeroberfläche (GUI) und einer breiten Palette von Messoptionen für jeden spezifischen Anwendungsbedarf. Abschließend bietet NanoSpec 6100 eine umfassende Inspektionslösung für die Masken- und Waferforschung. Das Asset bietet überlegene bildgebende Auflösung, automatisierte Fehleranalyse, anpassbare Spotgrößen, flexible Messtechnik-Funktionen und eine benutzerfreundliche GUI. Als solche ist NANOMETRICS NanoSpec 6100 eine ideale Wahl für Halbleiterprozesse und Waferinspektion.
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