Gebraucht NANOMETRICS NanoSpec 8000 #293754442 zu verkaufen

NANOMETRIE NanoSpec 8000 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM) -basiertes Masken- und Wafer-Inspektionsgerät. Das System bietet erweiterte Funktionen zur automatischen Fehler-/Partikelanalyse (DPA) und bietet eine hochauflösende Abbildung selbst kleinster Funktionen und Defekte am Gerät. Die SEM-basierte Bildgebung von NanoSpec 8000 arbeitet mit einer beschleunigten 5KV-Säule, die eine bessere Auflösung und schnellere Bildgebung der Probe ermöglicht. Das Gerät verwendet SEM-Detektoren wie CCTV, Feldemissionskanone (FEG) und SS BSE, um detaillierte Bilder für den Benutzer zu erzeugen. Das in NANOMETRICS NanoSpec 8000 integrierte automatisierte DPA-Modul ermöglicht die Fehler- und Teilchenanalyse von verschiedenen bildgebenden Verfahren für eine breite Palette von Probentypen von Photoresist über Siliziumoxide und Silizide bis hin zu Polysilizium und verschiedenen Metallen. Die Maschine verfügt zudem über eine automatisierte Stufe, die die automatische Navigation in den interessierenden Bereich und die präzise Platzierung des Objekts ermöglicht. Die Bühne ermöglicht es dem Werkzeug auch, Bereichsüberprüfungen, Linienüberprüfungen, Musterüberprüfungen, Analysen an mehreren Standorten und Mehrschichtanalysen auf einem einzelnen Wafer oder einer Maske durchzuführen. NanoSpec 8000 bietet quantitative Analyse der Probe dank seiner erweiterten Fähigkeiten, die automatisierte Etikettierung, Funktion Datenextraktion und Overlay mit Elektronen, optischen oder Plot-Overlay-Tools umfassen. Es bietet auch Konturanalyse, Seitenverhältnisextraktion und kritische Flächenbilder. All diese Funktionen machen NANOMETRICS NanoSpec 8000 zu einer wünschenswerten Lösung, um Gerätestrukturen in Sekunden zu analysieren und zu inspizieren. Das Asset bietet auch integrierte Bildparameter-Profile Bereich, Kontrast und Kante, Phasenanalyse, mit automatisierter Verarbeitung, um schnell Ergebnisse zu generieren. Das integrierte Touchscreen-Bedienfeld und die intuitive Benutzeroberfläche machen NanoSpec 8000 sehr einfach zu bedienen und bieten eine optimale Steuerung und Überwachung des gesamten Workflows. Insgesamt ist NANOMETRICS NanoSpec 8000 ein zuverlässiges, leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop-basiertes Masken- und Wafer-Inspektionsmodell, das erweiterte Funktionen zur automatischen Fehler-/Partikelanalyse bietet, um detaillierte Bilder von selbst kleinsten Gerätefunktionen und Fehlern bereitzustellen. Dank automatisierter Funktionen und intuitiver Benutzeroberfläche ist es ein ideales Werkzeug für die Serien- und Materialforschung.