Gebraucht NANOMETRICS NanoSpec AFT 210 VT #9226129 zu verkaufen

NANOMETRICS NanoSpec AFT 210 VT ist eine vielseitige und fortschrittliche Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung, die den anspruchsvollsten Anforderungen von heute gerecht wird. Es verfügt über eine modulare Konfiguration mit einem hochauflösenden, linearen Scan-Pfad, um einen hohen Durchsatz, eine sehr geringe Fehlererkennungsempfindlichkeit und Skalierbarkeit für verschiedene Anwendungen zu gewährleisten. NanoSpec AFT 210 VT verwendet sowohl 2D- als auch 3D-Scantechniken für Masken- und Wafer-Inspektionen und ist in der Lage, feinste Merkmale und Formen bis zu 1 Mikrometer Größe zu überprüfen. Es verfügt über zwei Abtastpfade, die gleichzeitig betrieben werden können. Die erste ist ein langsamer Scan-Pfad, in der Lage, präzise Messungen von 3D-Funktionen an Masken und Wafern, mit Auflösungen bis zu 0,01 Mikrometer. Dieser Abtastpfad ist auch in der Lage, Intensität, Kontrast und Kantendetektion zu messen. Der zweite ist ein schneller Scan-Pfad, der perfekt ist, um Kantenposition und Linienbreite Variationen mit Auflösungen bis zu 0,1 Mikrometer zu messen. NANOMETRICS Das hochauflösende Bildgebungssystem NanoSpec AFT 210 VT ermöglicht eine beispiellose Fehlererkennung und Maßgenauigkeit. Sein linsenloses Design hilft, Fehldetektionen im Zusammenhang mit herkömmlichen optischen Bildgebungssystemen zu reduzieren. Das Gerät ist auch mit einer Hintergrundbeleuchtungsmaschine ausgestattet, die die Detektion von Details wie Kratzern, Partikeln und anderen nicht sichtbaren Verunreinigungen ermöglicht. Darüber hinaus ist das Werkzeug auch in der Lage, ungelöste Defekte auf Druckfolien mit seinen optimierten Beugungsverbesserungstechnologien zu erkennen. Die erhaltenen Masken- und Wafermessungen können mit der ausgeklügelten Bildanalysesoftware NanoSpec AFT 210 VT analysiert und verglichen werden. NANOMETRICS NanoSpec AFT 210 VT ist kompatibel mit branchenüblichen Bildformaten, die Kompatibilität mit zuvor gespeicherten Daten ermöglichen. Das Asset ermöglicht auch eine einfache Integration in andere Datenanalysesoftware, wie statistische Prozesskontroll- und Qualitätskontrollsysteme. Insgesamt ist NanoSpec AFT 210 VT ein unglaublich vielseitiges und leistungsstarkes Masken- und Wafer-Inspektionsmodell. Die modulare Konfiguration und die hochauflösende bildgebende Ausrüstung sorgen für präzise und präzise Messungen sehr kleiner Abmessungen, auch an extrem komplexen Masken und Wafern. Das System umfasst auch fortschrittliche Bildgebungstechnologien, einschließlich verbesserter Beugungs- und Verbesserungssysteme, die dazu beitragen, falsche Positiven und Fehldetektionen zu reduzieren. Schließlich macht die einfache Integration mit anderen Datenanalyse-Software macht es eine gute Wahl für diejenigen, die Maske und Wafer Inspektion in ihren Workflow integrieren wollen.