Gebraucht NANOMETRICS NanoSpec AFT 210 #9284966 zu verkaufen

NANOMETRICS NanoSpec AFT 210 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage für die Halbleiterindustrie. Es ist ein automatisiertes System, das eine vollständige Abdeckung und Analyse von Fehlern auf Waferebene bietet, einschließlich Fremd- und nativen Partikelfehlern. Es ist in der Lage, Partikel über einen weiten Bereich von Größen bis zum Nanometer (nm) zu detektieren und zu messen. Mit seiner Hochleistungsbildaufbereitungsfähigkeit kann NanoSpec schnelle Analyse von Partikeln und Defekten am Oblatenniveau bieten. Die Einheit besteht aus einem automatisierten Maskeninspektionsmodul, einem Waferinspektionsmodul und einer Hochgeschwindigkeitsbildgebungsmaschine. Das automatisierte Maskeninspektionsmodul ist mit einem Laserscanner ausgestattet, der die Maskenränder genau umschaut, um Defekte und Partikel in Echtzeit zu erkennen. Gepaart wird dies mit einer spektroskopischen Abbildungstechnologie, die in der Lage ist, Partikel verschiedener Größen und Typen zu detektieren und zu messen. Das Waferinspektionsmodul dient zur Erkennung von Defekten auf Waferebene. Es kann Partikel verschiedener Größen, Formen und Materialien mit unterschiedlichen Eigenschaften erkennen. Es verfügt auch über ein hochauflösendes Bildgebungswerkzeug, das genaue und detaillierte Bilder der Partikel und Defekte liefert. Das Asset verfügt zudem über ein High-Speed-Imaging-Modul (HSI), das in der Lage ist, Partikelbilder mit einer Geschwindigkeit von bis zu 1.000 Bildern pro Sekunde zu erfassen und zu analysieren. Dadurch ergeben sich hochauflösende Bilder von Partikeln und Defekten, die dann auf mögliche Korrekturmaßnahmen analysiert werden. Die NanoSpec verfügt außerdem über eine Datenanalyse-Suite, um die erkannten Partikel und Defekte zu analysieren und umfassende Berichte zu erstellen. Die Suite umfasst einen statistischen und visuellen Inspektionsbericht sowie detaillierte Bilder, die eine weitere Inspektion und Analyse ermöglichen. Darüber hinaus verfügt die NanoSpec über eine intuitive Benutzeroberfläche, mit der Ingenieure einfach auf ihre vielen Funktionen und Optionen zugreifen und diese konfigurieren können. Darüber hinaus ist es ein skalierbares Modell, das bei Bedarf leicht mit neuen Funktionen und Funktionen aktualisiert werden kann. NANOMETRICS NANOSPEC/AFT 210 ist eine fortschrittliche Masken- und Waferinspektionsanlage, die eine vollständige Abdeckung für Halbleiterproduktionsanlagen bietet. Mit seiner Hochleistungsbildaufbereitungsfähigkeit, Entdeckung einer breiten Reihe von Partikelngrößen und intuitiver Benutzerschnittstelle, macht NanoSpec-AFT 210 es die vollkommene Wahl für die Halbleitermaske und Oblateninspektion.