Gebraucht NANOMETRICS NanoSpec AFT #293615480 zu verkaufen

NANOMETRICS NanoSpec AFT (Advanced Feature Technology) von NANOMETRICS ist eine führende Kantenmasken- und Wafer-Inspektionsausrüstung, die für erweiterte Funktionen und Spezial-Halbleiterinspektionen verwendet wird. Dieses System bietet eine höhere Präzision und Genauigkeit mit einem breiten Sichtfeld für 2D- und 3D-Bildgebung mit intelligenter Fehlerorganisation. NANOMETRICS NANOSPEC/AFT verfügt über eine einzigartige Smart Feature Scan (SFS) -Funktion, die eine Analyse sowohl klarer als auch undurchsichtiger Merkmale mit verbesserter Bildschärfe und ohne Bildverschiebung ermöglicht. Das Gerät enthält auch eine optische Platte mit niedrigem Hintergrund, um Hintergrundgeräusche und Fehlalarme zu reduzieren. Das optische Design von NanoSpec AFT bietet Kunden Flexibilität, Prüfparameter wie helle und dunkle Werte, Kontrastschwellen und die Geschwindigkeit der Fokuseinstellung anzupassen. Die Maschine bietet auch mehrere Die-to-Die (D2D) Modi, die es Anwendern ermöglichen, kritische Fehlererkennung, Klassifizierung und Messtechnik an jedem Stempel über den gesamten Wafer durchzuführen. Das Tool ist einfach in bestehende Produktionslinien zu integrieren und bietet volle Automatisierungsunterstützung, um maximale Screening-Effizienz zu gewährleisten. Es ist auch in der Lage, komplexe Fehler zu identifizieren, die groß genug sind, um mit nichtleitendem Merkmalskontrast erkannt zu werden. NANOSPEC/AFT wurde entwickelt, um Waferdefekte zu analysieren, die mit optischen und rasternden Elektronenmikroskopen wie Mosaik- und Sägemikroskopen, kleinen Gruben und Kratzern schwer zu erkennen sind. Das Asset hat eine hohe Auflösung und Wiederholbarkeit, so dass es sehr effektiv bei der Erkennung von Mikrofunktionen und Defekten, die in der Regel schwer zu lokalisieren sind. Zusätzlich enthält es ein eingebautes Mikroskop zur einfachen Betrachtung und Inspektion von Stempelfehlern. Die Flexibilität und Effizienz von NANOMETRICS NanoSpec AFT ermöglicht es seinen Anwendern, zuverlässige Inspektionsergebnisse bei gleichbleibender Qualität zu erhalten. Das innovative Design ermöglicht zudem maximale Prozessverfügbarkeit, maximalen Inspektionsdurchsatz und damit Produktionseffizienz. Dieses Modell ist ideal für erweiterte Funktionen und Spezial-Halbleiterinspektionen mit minimalen Kosten und Aufwand.