Gebraucht NANOMETRICS SDP-2000T #9354596 zu verkaufen

ID: 9354596
Film thickness measurement system Model number: 010-0511.
NANOMETRICS SDP-2000T ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die entwickelt wurde, um die Integrität und Genauigkeit von Halbleitermasken und Wafergeometrien zu bewerten. Das System kann die automatisierte Messung von 2D- und 3D-Funktionen mit optischen Bildern und Datenerfassungstechnologie ermöglichen. Seine Längen- und Winkelmessungen können mit hoher Wiederholbarkeit durchgeführt werden und bieten Zuverlässigkeit der Produktionslinie. Die Einheit besteht aus zwei Hauptmodulen; das Modul Maskenprüfung und das Modul Waferprüfung. Das Maskeninspektionsmodul enthält eine automatische Ausrichtungsfunktion, die schnelle und genaue Messungen mehrerer Masken ermöglicht. Darüber hinaus bietet es Wafer zur Maskierung von Ausrichtungs- und Overlay-Messungen mit Interpolationen bis zu 40x Vergrößerung und optische Inspektion für isolierte Defekte. Das Wafer-Inspektionsmodul kann sowohl flache als auch stufenförmige Wafer inspizieren. Die Maschine kann eine 2D-Oberflächenmapping-Technik verwenden, die je nach eingestellten Parametern zwischen 40 und 200 Datenpunkte pro Quadratmillimeter erfasst. Messpunkte können in benutzerdefinierten Zonen definiert werden, um einen einfachen Abruf zu ermöglichen. Die Prüfergebnisse können automatisch in das Tool gespeichert, als interne Datenbank weiterverarbeitet oder in eine externe Datenbank exportiert werden. Das Asset umfasst auch erweiterte Bildverarbeitungs- und Filterfunktionen, die eine verbesserte Qualitätskontrolle und weitere Analyse von Messmustern ermöglichen. Darüber hinaus bietet das Modell verschiedene Anzeigemodi, wie Stereo- oder Einzelansichtsprojektion und stereoskopische 3D-Anzeige. Die entsprechende Software ist zudem sehr flexibel, so dass anwenderdefinierte Einstellungen möglich sind und Benutzer die Bedienung einfach anpassen können. Insgesamt bietet SDP-2000T eine sehr zuverlässige und genaue Leistung, sowohl bei der Maskeninspektion als auch bei der Waferinspektion. Seine Flexibilität ermöglicht es ihm, sich einfach in bestehende Produktionslinien zu integrieren, und seine erweiterten bildgebenden Fähigkeiten können genaue Informationen über die Form und Zusammensetzung von Halbleiterstücken liefern. Die Ausrüstung kann sich somit als sehr nützlich für Qualitätskontrollanwendungen erweisen und genaue Messungen an einer Vielzahl von Materialien gewährleisten.
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