Gebraucht NANOMETRICS Spark-300 #9352204 zu verkaufen

NANOMETRICS Spark-300 ist eine „Maske & Wafer-Inspektion“ -Ausrüstung mit hochauflösender Messtechnik, die eine hervorragende Betriebsgenauigkeit und Qualität in modernen Halbleiterproduktionsprozessen garantiert. Dieses System wurde speziell entwickelt, um automatisierte Messaufgaben auf Leiterplatten, Halbleiterscheiben und anderen kleinen Komponenten zu ermöglichen. Spark-300 bietet eine Vielzahl von automatisierten Scantechnologien und Funktionen, die das Gerät ideal für eine präzise Messtechnik-Analyse machen. Die Maschine umfasst eine Quarzlinse mit einem großen Sichtfeld, hochempfindliche photoelektrische Sensoren, dedizierte Software und Features-Erkennungsalgorithmen. Der integrierte Laserdetektor und eine Vielzahl von optischen Konfigurationen tragen dazu bei, eine genaue und präzise Analyse der geprüften Komponenten zu gewährleisten. Das Tool verfügt zudem über ein neu konzipiertes Illumination Delivery Asset, das absolute Flexibilität bei der Beleuchtung und eine einstellbare Mustergröße im Bereich von 8x8 bis 150x150 mm bietet. Auf diese Weise kann der Anwender zwischen verschiedenen Beleuchtungsquellen wechseln und so größere Komponenten analysieren. NANOMETRICS Spark-300 Modell bietet mehrere analytische Funktionen, darunter die Ermittlung von Arbeitsparametern (z.B. Schichtdicke, Schaltungsmusterform, Größe usw.), digitalen Bildvergleich, Nachbearbeitungsanalyse und vieles mehr. Das Gerät arbeitet auf einer benutzerfreundlichen, interaktiven grafischen Benutzeroberfläche (GUI). Die GUI ermöglicht es Benutzern, monochromatische und binäre Bilder anzuzeigen, die Schichtdicke zu messen und Parameter in Echtzeit zu analysieren. Die grafische Benutzeroberfläche ermöglicht zudem eine einfache und effiziente Datenabfrage und -analyse. Ein optionaler Inspektionssatz ist verfügbar, der die Leistung des Systems weiter erhöht. Das Kit umfasst ein Muster-Zielbrett und Prüflinge sowie eine Anwendung zur Datenverarbeitungsanalyse für vertiefende Tests und Analysen. Zusammenfassend bietet Spark-300 Masken- und Wafer-Inspektionseinheit überlegene Präzision und Genauigkeit für die automatisierte messtechnische Analyse in modernen Halbleiterproduktionsprozessen. Die Maschine wird von der neuesten Scan- und Inspektionstechnologie mit innovativen Beleuchtungs- und Optikkonfigurationen für mehr Leistung angetrieben. Das Tool ist einfach zu bedienen und kostengünstig, so dass es eine ideale Wahl für automatisierte Inspektions- und Analyseaufgaben ist.