Gebraucht NAPSON NC-3000F #9085605 zu verkaufen

NAPSON NC-3000F ist eine hochentwickelte und zuverlässige Masken- und Wafer-Inspektionsanlage für den Einsatz in der Mikroelektronik- und Halbleiterindustrie. Das System ist entweder mit einem Feldemissionsrasterelektronenmikroskop (FESEM) oder einer normalen bildgebenden Option ausgestattet, um die höchste Auflösung der verfügbaren Bildgebung bereitzustellen. NC-3000F hat eine maximale Auflösung von bis zu 2 µm und kann eine Abtastgenauigkeit von 0,1 µm Zeile/Raum erreichen, was bedeutet, dass es in der Lage ist, extrem kleine Merkmale und Maskierungsanforderungen zu überprüfen. Es ist mit einer Vielzahl von einstellbaren Parametern ausgestattet, um den Inspektionsprozess zu optimieren und eine überlegene Bildqualität zu gewährleisten. Neben seinen hochauflösenden Bildgebungsfunktionen verfügt NAPSON NC-3000F auch über eine robuste automatisierte Wafer-Inspektionseinheit, die Autofokus-Bilder von bis zu 1000 Wafern pro Sekunde exakt erfassen kann. Die Maschine verwendet eine proprietäre Brightfield-Inspektionstechnologie, die Ertragsdefekte durch Kratzer, Kontamination, unvollständige Lithographie oder andere Probleme leicht identifizieren kann. Die intuitiven Eigenschaften von NC-3000F machen es zu einer idealen Wahl für anspruchsvolle mikroelektronische Bildgebungsanwendungen. Es ist mit einer Reihe von automatischen Funktionen wie Mehrfachmaskenausrichtung, Weißlichtinterferenzkorrektur und anderen erweiterten Bildanalyse-Optionen ausgestattet. Zusätzlich ist das Werkzeug mit einer hochgenauen Stufe ausgestattet, um eine genaue und wiederholbare Waferausrichtung zu ermöglichen. Abschließend ist NAPSON NC-3000F mask and wafer inspection asset ein ideales Werkzeug für hochpräzise bildgebende Anwendungen. Die erweiterten Bildgebungsfunktionen, die automatisierte Bildaufnahme und die intuitiven Funktionen machen es zu einem leistungsstarken Modell, das eine hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit bietet.