Gebraucht NAPSON RT-70 #9156821 zu verkaufen

NAPSON RT-70 ist eine fortschrittliche Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung zur Inspektion kritischer Parameter in IC-Designs und -Produktion. Es bietet hohe Genauigkeit, Geschwindigkeit und Wiederholbarkeit für Waferstoßen, Ausrichtung, Lithographie, Messtechnik und Fehlerinspektion. Das System integriert einen hochentwickelten optischen Sensor mit einem Hochgeschwindigkeits-Scankopf und einer Corvis-7 Softwareplattform. Der optische Sensor dokumentiert und interpretiert Echtzeitdaten durch mehrere Technologien wie Vollfeldspektroskopie und Linienabtastung und bietet Messungen von Wafer-Topographie, Line and Pitch und Defekten. Der Hochgeschwindigkeits-Scankopf verfügt über ein breites Sichtfeld und eine hohe Auflösung, die eine schnelle Inspektion von ICs vor Ort und eine signifikante Reduzierung der gesamten Fehlerüberprüfungszeit ermöglicht. Die Corvis-7 Softwareplattform bietet eine benutzerorientierte Automatisierung des Inspektionsprozesses mit einer intuitiven grafischen Oberfläche, die eine einfache Bildaufnahme, Datenanalyse und Datenexport ermöglicht. Die Software ermöglicht es auch, alle Messgrößen an die Kundenanforderungen anzupassen. RT-70 Einheit wurde entwickelt, um die Anforderungen der Halbleiterindustrie an Geschwindigkeit, Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu erfüllen. Mit ihrer großen Wafer-Handhabungskapazität kann die Maschine bis zu 12 Wafer gleichzeitig mit bis zu acht Schwerpunkten inspizieren. Dadurch wird sichergestellt, dass alle Stöße, Kontakte, Leitungen und Merkmale gründlich überprüft werden. Die Maskenausrichtungsfähigkeit des Werkzeugs ist außerdem außergewöhnlich genau und wiederholbar und bietet eine bessere Overlay-Leistung als unter 45nm. Die Anlage ist für Reinraumumgebungen konzipiert und entspricht verschiedenen internationalen Standards, darunter denen von SEMI und MIL-STD. Außerdem ist NAPSON RT-70 Modell mit einer Vielfalt von Industriestandardschausoftwarepaketen vereinbar, schnelle Integration in vorhandene Oblatenverarbeitungssysteme ermöglichend. RT-70 Ausrüstung ist die ideale Lösung für hochgenaue und wiederholbare Masken- und Waferinspektionsanwendungen. Es kombiniert hochpräzise und Hochgeschwindigkeits-Scankopftechnologie, Vollfeld-Spektroskopie und intuitive GUIs für Datenerfassung, -analyse und -export. Mit seiner intuitiven grafischen Schnittstelle und seinen Halbleitereigenschaften ist das NAPSON RT-70 System eine ausgezeichnete Wahl für die Herstellung und Inspektion von Halbleitern.