Gebraucht NEGEVTECH NT 3100 #9030665 zu verkaufen

NEGEVTECH NT 3100
ID: 9030665
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2005
Defect inspection system, 12" 2005 vintage.
NEGEVTECH NT 3100 ist eine hochmoderne Masken- und Wafer-Inspektionsanlage des Branchenführers NEGEVTECH. Das System zielt darauf ab, Halbleiterhersteller bei der Erkennung und Behebung von Defekten bei der Masken- und Waferproduktion zu unterstützen. NT 3100 verfügt über eine breite Palette fortschrittlicher Technologien, die zeitnah präzise und präzise Ergebnisse erzielen. NEGEVTECH NT 3100 verwendet bildgebende Technologien der nächsten Generation und ist in der Lage, sowohl Maske als auch Wafer bei Auflösungen bis zu 25 nm zu inspizieren. Mittels multispektraler Bildgebung können die Bilder entweder in sichtbarem Licht oder in ultraviolettem Licht wiedergegeben werden, was die Effizienz und Genauigkeit des Inspektionsprozesses verbessert. Die Bildverarbeitungsalgorithmen sind in der Lage, Fehler und Abweichungen auf Maske oder Wafer automatisch zu erkennen, wodurch eine manuelle Überprüfung entfällt. NT 3100 verfügt auch über automatisierte Messfunktionen, die eine genaue und präzise Analyse komplexer Strukturen auf der Maske oder dem Wafer ermöglichen. Mit der Fähigkeit, eine Vielzahl von Parametern zu messen, von CD bis Bump Pitch, kann die Einheit auch die geringsten Unterschiede zwischen gewünschten und produzierten Strukturen erkennen. Darüber hinaus unterstützt die Maschine auch Echtzeit-Feedback, so dass der Bediener schnell Korrekturen vornehmen kann. NEGEVTECH NT 3100 verfügt auch über ein Hochleistungs-Automatisierungswerkzeug, das mehrere Kammern in einem Durchgang steuern kann. Dies ermöglicht es dem Asset, die Zykluszeit zu reduzieren, den Durchsatz zu erhöhen und gleichzeitig ein hohes Maß an Qualität und Genauigkeit zu erhalten. Darüber hinaus bietet das Automationsmodell eine webbasierte GUI, die eine benutzerfreundliche Schnittstelle zur Steuerung der Geräte bietet. NT 3100 bietet auch leistungsstarke Datenanalysetools, wie den Sortierassistenten, mit dem Benutzer Fehlerparameter einfach analysieren und klassifizieren können. Dies hilft bei der schnellen Ermittlung der Ursache einer Diskrepanz, sodass der Benutzer rechtzeitig Korrekturmaßnahmen ergreifen kann. Insgesamt ist NEGEVTECH NT 3100 ein leistungsstarkes Masken- und Wafer-Inspektionssystem mit erweiterten bildgebenden, automatisierten Mess-, Automatisierungs- und Datenanalysefunktionen. Diese Eigenschaften kombinieren, um NT 3100 zu einer effizienten und genauen Inspektionslösung für Halbleiterhersteller zu machen.
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