Gebraucht NIHON DENSAN TWi-5000 #9293547 zu verkaufen

NIHON DENSAN TWi-5000 ist eine fortschrittliche Maske und Wafer Inspektion Ausrüstung entwickelt, um zuverlässige und genaue optische Inspektion von gemusterten Wafern, Maske und Photomasken Substrate zu bieten. Dieses System wurde speziell für die automatische Analyse, Erkennung und Korrektur von Fehlern in Produkten aus Halbleiterherstellungsprozessen entwickelt. TWi-5000 Gerät ist mit einer Reihe fortschrittlicher optischer Detektionsverfahren und Kontrollsysteme ausgestattet. Diese Maschine ist auf einer hochpräzisen Bewegungssteuerungsstufe aufgebaut, die automatisches Scannen ermöglicht, um bis zu 144 Bilder pro Sekunde innerhalb eines großen Sichtbereichs zu erzeugen, was eine genaue und schnelle Inspektion ermöglicht. NIHON DENSAN TWi-5000 nutzt hocheffiziente Deep Learning-basierte Technologien, um das Muster von Defekten in Halbleiterbauelementen und Photomasken zu analysieren. Mit diesen Vorhersagen kann eine weitere Analyse des Fehlers vorgenommen werden, wobei dem Muster ein Grad zugeordnet wird. Dies gibt dem Nutzer Feedback, um effiziente Evaluierungen, politische Entscheidungen und Verbesserungsstrategien in Bezug auf die Produktqualität zu unterstützen. Das Tool enthält einen Wafer-Film-Checkout-Bereich, mit dem Benutzer die Qualität eines gesamten Wafers mit einer einzigen Belichtung oder einem einzigen Vollbereichsbild überprüfen können. Dieses Modell ist mit einem automatisierten Verfahren zur Messung und Auswertung von Merkmalen wie Fehlergröße, Typ und Anzahl sowie zur Überprüfung von Datenunterschieden ausgestattet. Dieses Gerät erfordert auch eine minimale Eingabe des Benutzers durch seinen automatisierten Prozess. TWi-5000 verfügt über verbesserte Fehleranalysefunktionen und bietet Anwendern die Möglichkeit, Fehler in der Mikrolithographie und IC-Fertigung schnell zu identifizieren und zu analysieren. Dieses System ist mit einer fortschrittlichen statistischen Analyse-Software ausgestattet, die verschiedene Muster von Defekten erkennen und analysieren kann, wie z. B.: große Gruben isolierte Partikel und Kratzer Kratzer und Druckfehler füllen Muster Fehler und Fehlausrichtung. Das Gerät unterstützt auch eine integrierte Musteranpassungsanalyse, mit der das Maskenmuster mit dem idealen Muster verglichen werden kann. Dies bietet eine effiziente Möglichkeit, jede Art von Fehlanpassung oder Fehlausrichtung des Musters im Gerät zu identifizieren und zu analysieren. NIHON DENSAN TWi-5000 bietet mit seinen fortschrittlichen und anspruchsvollen Funktionen umfassende Masken- und Waferinspektionsprozesse, was zu einer effizienten Produktion von Halbleiterbauelementen und integrierten Schaltungen führt. Die Fähigkeit dieser Maschine, Fehler und Mängel zu reduzieren, führt zu erhöhter Produktqualität und Kosteneinsparungen.