Gebraucht NIKON Optistation 3 #9267067 zu verkaufen

ID: 9267067
Weinlese: 1997
Automatic wafer inspection system 1997 vintage.
NIKON Optistation 3 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die für sehr hohe Genauigkeit in Wafer-Herstellungsprozessen entwickelt wurde. Es nutzt fortschrittliche optische Inspektionstechnologie, um mikroskopische Nichtkonformitäten und Defekte in den Masken und Waferoberflächen zu erkennen. NIKON OPTISTATION-3 verfügt über ein großformatiges LCD-Display, das Bilder der inspizierten Masken und Wafer sowohl in einer zweidimensionalen als auch in einer dreidimensionalen Ansicht anzeigen kann. Auf diese Weise können Benutzer die Bilder schnell und präzise überprüfen und fehlerhafte Konformitäten und Mängel identifizieren. Das System verwendet mehrere verschiedene Mikrolinsen und Videokameras, um Wafer zu inspizieren, und ist in der Lage, auch die kleinsten Fehler zu erkennen. Es verwendet auch eine Vielzahl von präzisen optischen Filtern und Algorithmen, um die Wafer zu bewerten und zu analysieren. Optistation 3 liefert dem Benutzer auch verschiedene nützliche Informationen wie Fehlergröße, Ort und Ursache. Darüber hinaus kann es auch Ausgänge in verschiedenen Formaten wie FDC, EDA und anderen proprietären Dateiformaten generieren. Das Gerät bietet eine umfassende Qualitätskontrolle der Masken und Wafer, indem alle Fehlstellen und Mängel auf effiziente Weise erkannt werden. OPTISTATION-3 ist mit den modernsten Technologien zur Verfügung, die nur die höchste Genauigkeit und Präzision. Darüber hinaus kann NIKON Optistation 3 in bestehende Fertigungssysteme integriert werden. Dies ermöglicht eine nahtlose Schnittstelle zum bestehenden Fertigungsprozess und die Übermittlung der Daten direkt an die Produktionslinie. Insgesamt ist NIKON OPTISTATION-3 eine fortschrittliche Masken- und Wafer-Inspektionsmaschine, die auf höchste Genauigkeit und Zuverlässigkeit ausgelegt ist. Es kann auch kleinste Fehlerstellen und Defekte leicht erkennen und ist in der Lage, Wafer sowohl in einer zweidimensionalen als auch in einer dreidimensionalen Ansicht zu analysieren. Es wurde auch entwickelt, um nützliche Metadaten und Berichte in verschiedenen Formaten bereitzustellen, und kann einfach in bestehende Fertigungssysteme integriert werden.
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