Gebraucht NIKON Optistation 3A #9371744 zu verkaufen
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NIKON Optistation 3A ist eine leistungsstarke Masken- und Wafer-Inspektionsanlage. Es ist eine fortschrittliche optische Inspektionslösung, die fortschrittliche automatisierte Inspektionsmöglichkeiten bietet, um Herstellern zu helfen, die anspruchsvollen Anforderungen der heutigen Halbleiterproduktion zu erfüllen. NIKON OPTISTATION 3 A ist mit einem hochauflösenden Sichtsystem mit einer wahren Auflösung von 5 μ m (Millionstel Meter) ausgestattet, das eine genaue Inspektion von Halbleiterscheiben und Masken mit einer Mindesteigenschaftsgröße von 5 μ m ermöglicht. Die hohe 4K-Auflösung ermöglicht auch die genaue Inspektion von finFET-Transistoren der nächsten Generation. Die Maschine ist auch in der Lage, eine Vielzahl von Defekten zu erkennen, einschließlich Schmutz, Kratzer und Bandrückstände, mit einer Empfindlichkeit bis zu 1E-4. Dieses Tool verwendet fortschrittliche Software und Algorithmen, um die Inspektion und Überprüfung von Musterzielen auf verschiedenen Ebenen zu unterstützen. Es ist in der Lage, Elemente von einfachen 2D-Linien und Kreisen bis hin zu komplexen 3D-Strukturen automatisch zu inspizieren. Es kann auch genau Muster erkennen, wie Resiststapelung und Nanometer-Merkmale. Darüber hinaus ist Optistation 3A mit einem intuitiven Human Computer Interface ausgestattet, das eine einfache Möglichkeit bietet, Inspektionsprojekte zu verwalten und Fehler zu überprüfen, um den Inspektionsprozess zu rationalisieren. Außerdem bietet OPTISTATION 3 auch in einer Prozession gehende Hochleistungsfähigkeiten, Schauzeit zu reduzieren. Diese Anlage ist in der Lage, Tausende von Wafern und Masken pro Tag zu einem Satz zu verarbeiten, der um ein Vielfaches schneller ist als herkömmliche Inspektionssysteme. Darüber hinaus bietet dieses Modell auch eine flexible Datenverwaltungsausrüstung, mit der Benutzer Inspektionsergebnisse auf Remote-Computern exportieren, speichern und anzeigen können. Zusammenfassend ist NIKON Optistation 3A ein leistungsstarkes Masken- und Wafer-Inspektionssystem, das fortschrittliche optische Technologien, Software und Algorithmen nutzt, um Anwendern eine leistungsstarke, genaue und effiziente Möglichkeit zur Qualitätssicherung zu bieten. Seine hochauflösende Seheinheit, seine empfindlichen Fehlererkennungsfunktionen und seine intuitive Benutzeroberfläche machen es zum perfekten Werkzeug für die Halbleiterproduktion.
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