Gebraucht NIKON Optistation III #293616246 zu verkaufen

NIKON Optistation III
ID: 293616246
Inspection system.
NIKON Optistation III ist eine hochwertige Masken- und Wafer-Inspektionsanlage für die Halbleiterindustrie. Es bietet eine anpassbare Plattform mit einer Reihe von Funktionen, die die genaue Auswertung von Oberflächenfehlern und Wafer-Topographie erleichtern sollen. NIKON OPTISTATION-III verwendet ein (High-End) optisches Mikroskop mit einem 5-Achsen-CNC-Positionierungsmechanismus und eine Digitalkamera, um Bilder von Optik, Masken sowie elektrischen und thermischen Komponenten zu erfassen. Die CNC-Positionierung sorgt für Genauigkeit und Reproduzierbarkeit in der Bildanalyse, während die Digitalkamera für hochauflösende Bilder sorgt, die jederzeit gezoomt, gespeichert und referenziert werden können. Optistation III verfügt auch über eine Reihe von erweiterten Softwarefunktionen, die die detaillierte Analyse von Bildern erleichtern. Beispielsweise können Beispielbilder mit Bildern verglichen werden, die in der Bildbibliothek des Systems gespeichert sind, und Fehler können identifiziert und klassifiziert werden. Es verfügt über ein erweitertes Bildanalysemodul, das die Identifizierung von Merkmalen wie Defekten, Oberflächenrauhigkeit und Musterübereinstimmung sowie zweidimensionale (2D) Inspektion ermöglicht. Die automatisierte Rückseiteninspektion (AVI) von OPTISTATION-III stellt sicher, dass Benutzer Rückseitentiefen und -muster sowie die Überprüfung auf Hohlräume und leitfähige Wege überprüfen können. Dieses Werkzeug reduziert die Inspektionszeit erheblich und kann sowohl für ein- als auch mehrschichtige Substrate verwendet werden. Darüber hinaus bietet NIKON Optistation III einen integrierten Inspektionsarbeitsplatz für anwendungsspezifische Analysen, einschließlich detaillierter Analyse von Fehlergröße, Form und Verteilung. Es verfügt auch über ein 3D-Analysewerkzeug, das die Messung der Oberflächentopographie ermöglicht. Insgesamt ist NIKON OPTISTATION-III eine fortschrittliche, High-End-Masken- und Wafer-Inspektionseinheit, die unübertroffene Genauigkeit, Zuverlässigkeit und Wiederholbarkeit bietet und somit die Auswahlmaschine für Fachleute in der Halbleiterindustrie ist.
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