Gebraucht NIKON Optistation VII #293644210 zu verkaufen

ID: 293644210
Wafer inspection system.
NIKON Optistation VII ist ein Masken- und Wafer-Inspektionsgerät, das die Geschwindigkeit, Genauigkeit und Zuverlässigkeit der führenden Kante der digitalen Bildgebung kombiniert. Es wurde entwickelt, um hervorragende Leistung in den anspruchsvollsten Prozessabläufen und Anwendungen für die Wafer- und Maskeninspektion zu liefern. Optistation VII ist mit einem digitalen 4K- oder 8K-Bildgebungssystem ausgestattet, das eine hohe Auflösung und ausgezeichnete Genauigkeit für Wafer- und Maskeninspektionen ermöglicht. Das Gerät nutzt eine fortschrittliche Optik mit einer hohen numerischen Apertur, um die Bildaufnahme von 1 µm bis 10 mm Sichtfeld mit Subpixelgenauigkeit zu ermöglichen. Die Maschine integriert sich auch in die optischen Systeme und bietet branchenführende Signal- zu Rausch- und Signal-zu-Rauschverhältnisse. NIKON Optistation VII nutzt die neueste Signalverarbeitungstechnologie, um ein hohes Maß an Wiederholbarkeit und Robustheit zu liefern, um alle aktuellen und zukünftigen industriellen Anforderungen zu erfüllen. Optistation VII wurde mit einer Hochgeschwindigkeits-Doppel-Sensorlösung entwickelt, um einen hohen Durchsatz und niedrige Inspektionszeiten zu erreichen. Seine erweiterten automatischen Steuerungsfunktionen bieten automatisierte Bedienung und Prozessintegration. Darüber hinaus verfügt das Tool über eine intuitive grafische Benutzeroberfläche, um die Bedienung zu vereinfachen. NIKON Optistation VII umfasst auch eine Reihe verschiedener Algorithmen sowie eine erweiterte Inspektionsbibliothek, die verschiedene Ebenen der Fehlererkennung abdeckt, einschließlich Partikelzahlen, Kanteninspektionen, Qualitätssicherung und andere Parameter. Darüber hinaus ist das Asset mit fortschrittlichen automatisierten Fehlererkennungs- und Markout-Funktionen ausgestattet, um eine einfache und qualitativ hochwertige Fehlerklassifizierung zu unterstützen. Neben den Inspektionsmöglichkeiten ist Optistation VII auch in der Lage, IRD-Defekte abzubilden, um die Fähigkeit zu beweisen, eine Karte von Fehlern aus einem einzigen Bild bereitzustellen. Dies ermöglicht eine hochempfindliche Fehleranalyse, die eine schnelle und genaue Analyse und Charakterisierung ermöglicht. NIKON Optistation VII integriert sich auch eng in Fehlerbearbeitungssysteme für automatisierten Retikel- und Wafer-Vergleich und Fehlerklassifizierung. Die Optistation VII ist mit ihrer leistungsstarken bildgebenden Fähigkeit, qualitativ hochwertigen Inspektionsergebnissen und einer reibungslosen Integration in den gesamten Prozessablauf ein unschätzbares Werkzeug in der Welt der Wafer- und Maskeninspektion.
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