Gebraucht NIKON Optistation VII #293644229 zu verkaufen

ID: 293644229
Wafer inspection system.
NIKON Optistation VII ist eine hochmoderne Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die entwickelt wurde, um die hohe Präzision zu erreichen, die für die modernen Halbleiterherstellungen von heute erforderlich ist. Basierend auf der revolutionären NIKON-Bildgebungstechnologie kann dieses System auch die schwersten Fehler erkennen. Optistation VII integriert mehrere High-End-Komponenten und bietet erweiterte Fähigkeiten, um die hohen Anforderungen der modernen Maskeninspektion zu erfüllen. Seine fortschrittliche Automatik, Brightfield-Erkennungsverfahren und bildgebende Technologie ermöglichen NIKON Optistation VII, Fehler automatisch zu identifizieren und zu lokalisieren. Im Modus Bildanpassung können Benutzer zusätzliche Informationen über Form, Größe und Art der erkannten Fehler erhalten. Optistation VII besteht aus einer modularen Architektur für Skalierbarkeit und einfache Wartung. Seine fortschrittliche Optikeinheit besteht aus einem Objektiv mit hoher numerischer Apertur (NA), einer variablen Beleuchtungsquelle und einer Digitalkamera mit großem Dynamikbereich. NIKON Optistation VII sorgt für ein einheitliches Bildfeld über einen weiten, gleichmäßigen Bereich von Empfindlichkeit und Kontrast. Die fortschrittliche automatisierte Funktionalität der Maschine macht mühsame manuelle Bedienungen überflüssig. Es erkennt und lokalisiert automatisch auch die kleinsten Defekte. Optistation VIIs eingebettete, Echtzeit-Fehlererkennungsalgorithmen haben die Fähigkeit, alle Arten von maskenbezogenen Defekten zu erkennen und zu überprüfen. Zusätzlich reduziert die Glättungsoption Fehlalarme, indem Artefakte und Geräusche aus den Bildern eliminiert werden. NIKON Optistation VII bietet auch mehrere informative Feedback- und Reporting-Optionen. Die umfassende Berichtsoption enthält eine große Auswahl an Merkmalen, darunter fehlerhafte Flächenverhältnisse, Fehlergröße und -form, größere Fehler- und kleinere Fehlerdetaillisten sowie einen Pass/Fail-Bericht. Darüber hinaus verfügt es über ein Low Level Lighting Tool (LLGS) für die rückseitige Fehlerüberprüfung und einen Live Line Scan für die Maskenüberlagerungsanalyse. Optistation VII bietet Anwendern verbesserte Workflow-Effizienz, leistungsstarke Genauigkeit und Zuverlässigkeit sowie die Skalierbarkeit, die für die Erfüllung selbst anspruchsvollster Halbleiterinspektionsaufgaben erforderlich ist. Mit seinen robusten Fähigkeiten bietet es Anwendern die Möglichkeit, ein Höchstmaß an fehlerfreier Maske und Waferinspektion zu erreichen.
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