Gebraucht OSI Metra 2115M #293629181 zu verkaufen

ID: 293629181
Weinlese: 1996
Overlay measurement system 1996 vintage.
OSI Metra 2115M ist eine fortschrittliche Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die für die Herstellung von Halbleitern entwickelt wurde. Es verwendet eine fortschrittliche automatisierte Bilderkennungstechnologie, um die Oberfläche einer Maske oder eines Wafers schnell und genau auf Fehler oder Unregelmäßigkeiten zu überprüfen, die die Produktqualität beeinträchtigen könnten. Zu den Hauptkomponenten gehören eine Scanstufe mit eingebauten Präzisions- X/Y- und Kippbewegungen, ein vakuumbasiertes Sichtsystem und ein hochauflösender LCD-Bildmonitor. Die Vision-Einheit verwendet eine Vielzahl von Optiken, einschließlich Digitalkameras, Mikrolinsen und wellenlängenempfindlichen Sensoren, um hochauflösende Bilder der Oberfläche der Maske oder des Wafers schnell zu erfassen, zu analysieren und anzuzeigen. Die aufgezeichneten Daten werden dann verwendet, um subtile Unregelmäßigkeiten in der Oberfläche wie Partikelverunreinigungen, Risse oder Verzerrungen oder andere Unregelmäßigkeiten zu erkennen, die zu defekten oder Substandard-Halbleiterbauelementen führen könnten. Metra 2115M verfügt zudem über eine benutzerfreundliche Schnittstelle zur Programmierung und Prozesssteuerung. Die Maschine ist in der Lage, komplexe Aufgaben wie die Verfolgung ungleichmäßiger Schritte, die Steuerung von Wellenformen und die Steuerung der X/Y- und Kippbewegungen zu erfüllen. Der programmierbare Logikcontroller ermöglicht es dem Anwender, die Parameter der Inspektion und des Datenanalyseprozesses anzupassen. Darüber hinaus verfügt OSI Metra 2115M über eine spezialisierte, großformatige statistische Analysesoftware, die eine schnelle und konsistente Analyse großer Datenmengen ermöglicht. Diese Software kann Daten, die vom Vision-Tool gesammelt werden, über viele Wafer- oder Maskenoberflächen vergleichen, um Ausreißer oder Auffälligkeiten schnell zu identifizieren. Schließlich ist Metra 2115M für die einfache Integration in andere Prozesse und Anlagen konzipiert. Seine Netzwerkschnittstelle ermöglicht den problemlosen Anschluss an andere Maschinen, wie Laserscanner oder automatisierte Sortiersysteme. Dadurch kann es bei Bedarf in andere Prozesse eingebaut werden, um den Herstellungsprozess von Halbleitern zu rationalisieren.
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