Gebraucht OSI Microvision 15 #5921 zu verkaufen

OSI Microvision 15 ist eine komplexe und leistungsstarke Masken- und Wafer-Inspektionsanlage zur Erkennung, Analyse und Kategorisierung von Defekten in einer Reihe von Halbleiterbauelementen. Seine fortschrittlichen Algorithmen und bildgebenden Funktionen ermöglichen es ihm, reparierbare und nicht wiedergutzumachende Fehler automatisch zu identifizieren und zu klassifizieren, wodurch schnelle und genaue Wartungs- und Qualitätssicherungsoperationen ermöglicht werden. Das System umfasst eine motorisierte, synchronisierte Wafertransporteinheit, ein hochauflösendes Mikroskop, ein Erfassungs-Subsystem und ein Fehlererkennungs-Subsystem. Das Mikroskop mit einer 5x Zoom-Fähigkeit ist in der Lage, Defekte bis zu 1000x zu vergrößern. Dies ermöglicht es dem Bediener, Fehler in beispiellosen Details zu sehen und aufzuzeichnen, so klein wie 0,20 Mikrometer! Das Erfassungs-Subsystem ermöglicht in Verbindung mit dem Mikroskop die Abbildung des gesamten Wafers in einem einzigen Scan. Es verwendet mehrere CMOS- und CCD-Kameras und Hellfeld, Dunkelfeld und Schrägwinkel-Bildgebungstechnologie, um die feinen Details und Nuancen der Wafer-Funktionen genau zu erfassen. Das Teilsystem zur Fehlererkennung ist eine leistungsfähige Kombination aus Mustererkennungstechnologien, den einzigartigen feldbasierten Fehlerprodukten von ProgRama und den proprietären Machine-Vision-Algorithmen von Metrosight. Mit diesen Technologien kann die Maschine Inspektionen durchführen, Musterfehler identifizieren, Fehler klassifizieren und zur weiteren Analyse trennen. Die gesammelten Daten werden dann durch das Tool zur Fehlerkategorisierung analysiert und klassifiziert, was eine schnelle und genaue Sortierung von Schlüsselfehlern ermöglicht. Danach werden die Daten auf eine patchbasierte Fehlerprüfstation exportiert, die dem Bediener detaillierte Fehlerbilder, Datenanalysen und Klassifizierungsberichte zur Verfügung stellt. Mit den Reporting-Tools können Betreiber umfassende Berichte mit umsetzbaren Informationen erstellen, um defekte Wafer schnell und genau zu identifizieren und zu dokumentieren. Insgesamt ist Microvision 15 ein umfassendes Kapital für die automatisierte Masken- und Waferinspektion. Mit seinen fortschrittlichen Bildgebungs- und Fehlererkennungstechnologien kann es mögliche Fehler genau identifizieren, messen und kategorisieren. Darüber hinaus bietet es leistungsstarke Reporting-Funktionen, mit denen Bediener Fehler schnell und genau analysieren und Korrekturmaßnahmen ergreifen können. Es ist die perfekte Wahl für jede leistungsstarke Qualitätssicherung.