Gebraucht PRISM VIT-118 #9306005 zu verkaufen

PRISM VIT-118 ist ein automatisiertes, berührungsloses Inspektionsgerät, das hochauflösende optische Bildgebung mit fortschrittlichen Mustererkennungsalgorithmen zur Inspektion von 3D-Objekten wie Masken und Wafern kombiniert. Das System wurde entwickelt, um den Anforderungen des sich ständig entwickelnden modernen Halbleitermarktes gerecht zu werden und bietet ein kostengünstiges und genaues Mittel für die Inspektion mit hohem Volumen. Die bildgebende Architektur von VIT-118 nutzt zwei verschiedene Arten der digitalen Bildgebung - eine hochauflösende und die andere feinauflösende -, um Bilder mit Klarheit und Treue in einem einzigen Schritt zu erfassen. Das Gerät ist auch in der Lage, präzise Höhenmessungen - von 40 bis 500 Nanometer - ermöglicht es Benutzern, Fehler auf flachen und gekrümmten Oberflächen zu erkennen. Darüber hinaus verfügt die Maschine über ein flexibles Sichtfeld von 0,05 bis 6 Millimetern und ist damit mit einer Vielzahl von Objektiven kompatibel, die üblicherweise in der Halbleitermasken- und Waferinspektion verwendet werden. Mit Hilfe fortgeschrittener Mustererkennungsalgorithmen prüft das Tool Bilder und vergleicht die Geometrien potenzieller Fehler mit einem vordefinierten Regelwerk. Mängel, die den Kriterien entsprechen, werden kategorisiert und können automatisch über das dazugehörige Bild angezeigt werden, was die Benutzerfreundlichkeit bei der Identifizierung defekter Produkte maximiert und ineffiziente Inspektions- und Sortierzeiten minimiert. Das Asset ist auch in der Lage, Muster wie Wiederholungsfehler und Abtastfehler zu vergleichen, die auf Fabrikationsmuster hinweisen können. PRISM-PRISM VIT-118 ist auch mit solchen kundenspezifischen Modulen kompatibel, so dass Kunden Regeln und Algorithmen erstellen können, die auf ihre spezifischen Anforderungen zugeschnitten sind. Darüber hinaus können Kunden den Prüfprozess im Voraus grafisch simulieren, um die Prüfeinrichtzeiten zu optimieren. Insgesamt bietet VIT-118 zuverlässige, automatisierte berührungslose Masken- und Wafer-Inspektion für großvolumige industrielle Anwendungen. Durch die Kombination einer flexiblen Bildgebungsarchitektur mit fortschrittlichen Mustererkennungsalgorithmen fördert das Modell Kosten- und Arbeitseffizienz bei maximaler Genauigkeit und Produktivität.