Gebraucht RAYTEX RXW-0826SFIX-SMIF #9209508 zu verkaufen

RAYTEX RXW-0826SFIX-SMIF
ID: 9209508
Wafergröße: 8"
Edge scanner, 8".
RAYTEX RXW-0826SFIX-SMIF ist eine hochmoderne Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die berührungslose Laserfunktionsmessung und fortschrittliche Fehlerüberprüfungstechniken in einer einzigen Plattform kombiniert. Das System verfügt über eine synchronisierte Bewegung, Objekterkennung und automatisierte Pass/Fail-Klassifizierung von Fehlern. Integrierte Mustersuchalgorithmen nutzen historische Wafer- und Maskendaten, um Fehler schnell zu lokalisieren und zu unterscheiden. Gleichzeitig erfasst das Gerät hochauflösende Bilder und Konturen der geprüften Materialien zur detaillierten Überprüfung und Analyse. Die Maschine ist ideal für hochgenaue, hochpräzise Masken- und Wafer-Inspektionen. Mit überlegener Genauigkeit und Wiederholbarkeit kann das Werkzeug Partikel und Defekte auf Halbleitermasken und Wafern jeder Größe erkennen und unterscheiden. Die Einhaltung jedes Details wird auch durch das fortschrittliche Design der Kamera und ihrer Optik verbessert und bietet Benutzern eine Genauigkeit, die mit herkömmlicher manueller Inspektion nicht erreichbar ist. Ein weites Sichtfeld sorgt dafür, dass Objekte unterschiedlichster Größen und Formen gescannt und erkannt werden können. Das Gerät verfügt zudem über eine leistungsstarke Beleuchtungsquelle, mit der das Modell auch kleinste Defekte und Partikel erkennen kann. Zu den weiteren Funktionen gehören automatisierte Verarbeitung, flexible Bild- und Datenerfassung sowie eine robuste Berichtsfunktion, mit der Benutzer schnell auf Ergebnisse zugreifen, diese überprüfen und archivieren können. Mit der intuitiven Benutzeroberfläche lassen sich Inspektionen einfach programmieren und in bestehende Fertigungsprozesse integrieren. Darüber hinaus bietet die Anlage umfassende Rückverfolgbarkeit und Reinraumkonformität, um die Zuverlässigkeit im Produktionsprozess zu gewährleisten. Mit einem vielseitigen Design und leistungsstarken Funktionen ist RXW-0826SFIX-SMIF Masken- und Wafer-Inspektionssystem die ideale Lösung für die Steigerung der Erträge, die Erkennung und Behebung von Defekten und die Aufrechterhaltung der Qualitätssicherung. Die Kombination aus modernster Technologie und automatisierten Verbesserungen bietet eine intuitive, produktive und zuverlässige Lösung, die den Anwender mit modernen Halbleiterherstellungsprozessen auf dem Laufenden hält.
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