Gebraucht RAYTEX RXW-1226SFI #9315831 zu verkaufen

RAYTEX RXW-1226SFI ist eine Masken- und Waferinspektionsanlage, die speziell für den Einsatz in Halbleiterprozessumgebungen entwickelt wurde. Dieses System ist mit einer integrierten optischen Inspektionseinheit (OIS) ausgestattet, die eine Licht- und Dunkelfeldbildoptimierung sowie eine strukturierte Infrarot-Technologie zur Erkennung einer Vielzahl von Fehlern verwendet. Darüber hinaus ist seine fortschrittliche Signalverarbeitungsmaschine in der Lage, Fehler automatisch auszuwerten, um sie nach ihrer Schwere zu klassifizieren. RAYTEX RXW 1226SFI hat eine außergewöhnlich hohe Auflösung von 10 Mikrometern. Dies macht es zu einem hochgenauen Werkzeug für die Inspektion von Masken und anderen photoresistenten Oberflächen. Die integrierte Lichtquelle im Werkzeug sorgt zudem dafür, dass möglichst hohe Lichtverhältnisse zur Fehlerinspektion und -erkennung bereitgestellt werden, was eine schnellere und qualitativ hochwertigere Analyse unterstützt. Das Asset verfügt auch über mehrere Abdeckungsmethoden, einschließlich Streifen- und Full-Coverage-Modi. Diese bieten Flexibilität hinsichtlich der Arten von Inspektionen und Analysen, die durchgeführt werden können. Darüber hinaus bietet das Modell verschiedene Algorithmen zur Mustererkennung, die eine automatisierte Analyse von Fehlermustern ermöglichen. Das Gerät verfügt auch über eine Touchscreen-Oberfläche, die eine intuitive und einfach zu bedienende Oberfläche für den Benutzer bietet. Dies ermöglicht eine einfache Navigation des Systems und kann zur Steuerung verschiedener Einstellungen verwendet werden. Das Gerät verfügt auch über eine Vielzahl von Anpassungsoptionen, die eine maßgeschneiderte Datenausgabe für verschiedene Arten von Inspektionen ermöglichen. Insgesamt ist RXW-1226SFI eine ausgezeichnete und hochentwickelte Masken- und Wafer-Inspektionsmaschine. Sein fortschrittliches optisches Inspektionswerkzeug ist in der Lage, eine breite Palette von Fehlern zu erkennen und seine anpassbare Leistung bietet eine erhöhte Präzision und Genauigkeit bei der Analyse und Erkennung dieser Fehler. Dieses Asset ist ein außergewöhnlich leistungsfähiges Werkzeug und in der Halbleiterprozessumgebung unerlässlich.