Gebraucht RAYTEX RXW-1227 EdgeScan #9397347 zu verkaufen

RAYTEX RXW-1227 EdgeScan ist eine führende Masken- und Waferinspektionsanlage für die Halbleiterindustrie. Es bietet eine hochauflösende Abbildung von Waferkanten, maximiert die Bildklarheit und erfasst kleine Defekte über die gesamte Waferoberfläche. Das EdgeScan-System ist mit einem hochgenauen Indexierungsmechanismus und ergonomischer Automatisierung ausgestattet, was eine präzise Steuerung und schnelle Rüstzeiten ermöglicht. Der vollautomatische Prozess des Geräts beginnt mit dem Laden und Übertragen von Themask oder Wafer in seine Inspektionskammer. Innerhalb der Kammer verwendet die EdgeScan-Maschine eine ausgeklügelte Laserscantechnik, die auf die Kanten von Themask oder Wafer gerichtet ist, um die Gesamtkontur zu erfassen und hochauflösende Bilder der Materialoberfläche zu liefern. Das EdgeScan-Tool erstellt dann ein Profil von Fehlerpositionen und Eigenschaften, das eine schnelle und genaue Fehlerbewertung ermöglicht. Das EdgeScan-Asset verwendet drei verschiedene Inspektionstechnologien - Fehlererkennung, Oberflächenprofil und Overlay-Analyse -, um eine umfassende Inspektion der Masken- oder Waferoberflächen zu gewährleisten. Diese Technologien ermöglichen sowohl zerstörungsfreie als auch zerstörerische Inspektionen der Materialien, verbessern die Fehlererkennungsfähigkeit weiter und verbessern die allgemeine Fehlererkennungsgenauigkeit. Die Defect Detection-Technologie erfasst mit Hilfe eines fortschrittlichen optischen Bildverarbeitungsmodells kleinere Defekte an der Randoberfläche einer Maske oder eines Wafers. Die Oberflächenprofil-Technologie kann 3D-Scans der Kantenflächen erzeugen, um die Form zu messen und die kritischen Bemaßungen der Materialien zu identifizieren. Die Overlay-Analysetechnologie wird verwendet, um kritische Ausrichtungstoleranzen zwischen mehreren Ebenen einer Maske oder eines Wafers zu erkennen und zu messen. Das EdgeScan-Gerät bietet darüber hinaus erweiterte Datenanalyse- und Berichtsfunktionen, die eine weitere Analyse der Masken- oder Waferdefekte ermöglichen. Seine Funktion zur Remote-Datenanalyse ermöglicht es Benutzern, Inspektionsergebnisse von verschiedenen Standorten schnell zu sammeln, zu analysieren und zu vergleichen. Darüber hinaus kann das System sowohl resultierende Daten exportieren als auch anpassbare Berichte erstellen, die verwendet werden können, um Fehlerursachen zu identifizieren und Qualitätskontrolle Feedback zu liefern. Insgesamt ist RXW-1227 EdgeScan eine leistungsstarke Masken- und Wafer-Inspektionseinheit, die Zeit und Kosten spart und gleichzeitig hochgenaue Ergebnisse liefert. Die automatisierten optischen Inspektionsmöglichkeiten, fortschrittliche Bildgebungstechnologien und die überlegene Datenanalyse und -berichterstattung machen den EdgeScan zur idealen Wahl für industrielle Halbleitermasken- und Waferinspektionsanwendungen.