Gebraucht RUDOLPH / AUGUST AXI-S #293706154 zu verkaufen

RUDOLPH/AUGUST AXI-S ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage von AUGUST Technologies. Dieses System ist in der Lage, Fehler innerhalb verschiedener Maskenmuster und Wafer auf höchster Genauigkeit zu erkennen, zu dokumentieren und zu charakterisieren. Die Einheit besteht aus zwei Hauptkomponenten, einem bildgebenden Teilsystem und einem Analyse-Teilsystem. Das bildgebende Teilsystem verwendet eine erweiterte CMOS Extended Definition Camera, um hochauflösende Bilder mit großen Tiefen von Feldern zu erfassen. Dies ermöglicht eine exzellente Inspektion sehr kleiner Merkmale sowie wiederholbare Inspektionen mit zuverlässigen Ergebnissen. Die erfassten Daten können dann mittels integrierter Algorithmen ausgewertet werden, um mögliche Fehler oder Unregelmäßigkeiten zu identifizieren. Die Maschine kann auch mit einer RUDOLPH-Mustererkennungssoftware gekoppelt werden, die eine weitere Genauigkeit bei der Erkennung von Fehlern bietet. Das Analyse-Subsystem nutzt mehrere Eingangskanäle und eine mehrschichtige Analysestrategie. Dies ermöglicht sowohl die Oberflächen- als auch die Unterflächendefektdetektion. Darüber hinaus kann AUGUST AXI-S verwendet werden, um Muster, Kanten und Orientierungen von Defekten zu bestimmen. Schließlich ermöglicht das Werkzeug die Quantifizierung von Defekten, die verschiedene Eigenschaften der Defekte aufzeigen können, wie ihre Größe, Form und Tiefe. Die Ergebnisse des Vermögenswertes werden in einer zentralen Datenbank gespeichert und ermöglichen es dem Benutzer, den Fortschritt seiner Inspektionen zu verfolgen und auf die aus der Inspektion gewonnenen statistischen Daten zuzugreifen. Dies hilft, Mustererkennung und Konsistenz in den Inspektionsprozess zu bringen. Darüber hinaus bieten erweiterte Überprüfungsfunktionen und automatisierte Überprüfungsvorschläge, die auf Benutzereinstellungen basieren, mehr Effizienz und Genauigkeit. RUDOLPH AXI-S ist ein fortschrittliches Werkzeug zur Masken- und Waferinspektion. Die hochauflösenden bildgebenden Funktionen und die leistungsstarke Analysesoftware ermöglichen genaue und äußerst zuverlässige Inspektionen mit wiederholbaren Ergebnissen. Die Möglichkeit, Fehler zu quantifizieren und Daten zu überprüfen, ermöglicht eine effizientere und genauere Überprüfung der inspizierten Masken und Wafer.