Gebraucht RUDOLPH / AUGUST AXI-S #9298337 zu verkaufen

RUDOLPH/AUGUST AXI-S ist eine hochgenaue und zuverlässige Masken- und Waferinspektionsanlage zur Beurteilung der Konformität von Substraten. Es ist in der Lage, Wafer und Halbleitermasken mit einer Auflösung von 0,5 Mikron abzutasten. Die Wafer werden sorgfältig ausgerichtet und auf eine X-Y-Stufe gelegt, die ein schnelles und genaues Scannen großer Flächen in nur Sekunden ermöglicht. Das Inspektionssystem ist mit einer hochauflösenden CCD-Kamera, einer LED-Lichtquelle und einer computergesteuerten Mikroskopeinheit ausgestattet. Die Mikroskopmaschine hat die Fähigkeit, ein- und auszuzoomen sowie präzise Positionierungseinstellungen vorzunehmen. Die CCD-Kamera erfasst feine und detaillierte Bilder der Substrate, die dann von der Computersoftware verarbeitet und analysiert werden. Die LED-Lichtquelle bietet eine optimale Beleuchtung für das Inspektionswerkzeug, während die optische Ausstattung für ein klares Bild sorgt. Das Inspektionsmodell ist in der Lage, eine breite Palette von Parametern wie Oberflächenrauhigkeit, Defekte, Ungleichmäßigkeiten, Partikelverschmutzung, Oberflächenfehler und mehr zu erkennen. Es kann ganze Panels scannen oder sich auf bestimmte Interessengebiete für eine eingehende Analyse konzentrieren. Die Geräte können Daten speichern und Trends über einen Zeitraum verfolgen, um genauere Ergebnisse zu erzielen. AUGUST AXI-S Inspektionssystem ist ein vielseitiges Werkzeug, das es für zahlreiche Anwendungen in der Halbleiterindustrie geeignet macht, und die erhobenen Daten sind für Entwickler, Hersteller und Inspektoren äußerst wertvoll. Die modernsten Funktionen und fortschrittlichen Technologien des Geräts machen es zu einer zuverlässigen und effizienten Lösung für die Qualitätskontrolle. Es bietet zuverlässige Leistung, wiederholbare Ergebnisse und hohe Präzision für alle Arten von Wafern und Maskensubstraten. Insgesamt sind die robusten Eigenschaften und Technologien der RUDOLPH AXI-S Inspektionsmaschine eine ideale Plattform für die Masken- und Waferinspektion. Die Datenerfassungsfähigkeiten, hohe Präzision und Wiederholbarkeit des Werkzeugs bieten Anwendern eine effiziente und zuverlässige Maschine zur detaillierten Substratanalyse und -inspektion.