Gebraucht RUDOLPH / AUGUST NSX 105 #293615447 zu verkaufen
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ID: 293615447
Weinlese: 2006
Macro defect inspection system
WHS-300MM Wafer handler
2006 vintage.
RUDOLPH/AUGUST NSX 105 Mask & Wafer Inspection Equipment ist für die hochpräzise Inspektion von Wafern, Masken und Retikeln konzipiert, die bei der Herstellung von mikroelektronischen Komponenten verwendet werden. Es besteht aus einer Reihe von Komponenten einschließlich Software, Bildgebungssystem, optischen Kopf und Steuerungskomponenten. Die im Gerät verwendete Software ist das WINNSX-Softwarepaket. Dies ermöglicht die Bedienung der Maschine sowie deren Anpassung an individuelle Anwendungen. Es umfasst Bildaufnahme- und Bildanalysefunktionen sowie Maskenausrichtungs- und Kalibrierroutinen. Die Software enthält auch verschiedene Tools zur Fehlererkennung und -berichterstattung. Das im AUGUST NSX-105 verwendete Bildgebungstool ist eine CCD-Kamera mit telezentrischer Optik. Die Kamera wird verwendet, um digitale Bilder der inspizierten Objekte zu sammeln. Es ist in der Lage, Bilder mit hoher Auflösung sowie Bilder in beliebigen Richtungen zur Fehlererkennung zu erfassen. Der optische Kopf wird verwendet, um die CCD-Kamera mit den inspizierten Objekten zu koppeln. Es besteht aus einem Objektivpaar, das Licht aus den verschiedenen Teilen des untersuchten Objekts sammelt. Es umfasst auch zwei hochpräzise Stufen für die Positionierung der Kamera über die inspizierten Objekte. Die in RUDOLPH NSX 105 verwendeten Steuerungskomponenten bestehen aus einem Touchscreen und einer Reihe von Bedientasten. Sie dienen der Steuerung des bildgebenden Modells, des optischen Kopfes und der Software. Sie ermöglichen auch eine individuelle Anpassung der Ausrüstung sowie eine einfache Bedienung und Navigation. AUGUST NSX 105 ist ein fortschrittliches System zur Inspektion und Analyse von Masken, Wafern und Retikeln, die bei der Herstellung mikroelektronischer Komponenten verwendet werden. Es bietet eine hochpräzise Inspektion und Fehlererkennung sowie die Fähigkeit, es individuell an individuelle Anwendungen anzupassen. Seine Komponenten, einschließlich der bildgebenden Einheit, des optischen Kopfes und der Steuerungskomponenten, machen es zu einem wirksamen Werkzeug für die Inspektion und Analyse von mikroelektronischen Produkten.
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